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關鍵特征：
· 可選190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點射線源
· JIMA卡空間分辨率測試可達0.5微米
· 支持多種平板探測器，探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米
納米焦點DR檢測系統 | ||
射線管 | 類型 | 穿透型納米焦點射線管 |
管電壓 | 穿透型射線管：190kV/225kV/240kV | |
冷卻 | 封閉式自循環冷卻 | |
焦點大小 | 0.5um (采用JIMA卡測試) | |
探測器 | 類型 | 非晶硅平板探測器 |
像素大小 | 50um /100um /127um /139um/200um | |
像素數量 | 平板探測器：>2048′2048 | |
機械系統 | 類型 | 高精度機械系統 |
有效檢測范圍 | 可定制化 | |
承重 | 可定制化 | |
旋轉 | n′3600 | |
軟件 | 類型 | 2維射線檢測 |
軟件功能 | 系統控制、2維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析，支持定制化軟件功能 | |
屏蔽室 | 溫度和濕度 | 專用空調系統，用于控制鉛房內的溫度和濕度 |
輻射防護 | 根據德國 R?V，法國 NFC 74 100 和美國性能標準 21 CFR 1020.40 制造，無需進一步改造的全防護屏蔽鉛房。對于最終使用，須由使用人員根據當地相關法律法規申請相應的認證許可。 |
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