上海全耀儀器設(shè)備有限公司
美國semisonsoft公司的薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1mm,埃級分辨率,非接觸式無損快速測量。廣泛的應用與各種生產(chǎn)或研究中,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層,觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如:半導體(硅,單晶硅,多晶硅)半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)微電子機械(MEMS)氧化物/氮化物光刻膠硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)高分子聚合物我們非常樂意與您討論有光薄膜的任何問題,希望我們多年的薄膜厚度測量經(jīng)驗能解決您所遇到的薄膜厚度測量問題。
電解式膜厚計
成立時間:2013年6月9日[已認證]
注冊資本: 100萬元 [已認證]
經(jīng)營范圍:儀器儀表、電子產(chǎn)品、電控自動化設(shè)備、機械設(shè)備及配件、計算機軟硬件及配件(除計算機信息系統(tǒng)安全專用產(chǎn)品)、機電設(shè)備及配件、實驗室耗材批發(fā)零售;儀器儀表維護,商務信息咨詢,企業(yè)營銷策劃。【依法須經(jīng)批準的項目,經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動】[已認證]
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