上海全耀儀器設備有限公司
美國semisonsoft公司的薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1mm,埃級分辨率,非接觸式無損快速測量。廣泛的應用與各種生產或研究中,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層,觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如:半導體(硅,單晶硅,多晶硅)半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)微電子機械(MEMS)氧化物/氮化物光刻膠硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)高分子聚合物我們非常樂意與您討論有光薄膜的任何問題,希望我們多年的薄膜厚度測量經驗能解決您所遇到的薄膜厚度測量問題。
電解式膜厚計
成立時間:2013年6月9日[已認證]
注冊資本: 100萬元 [已認證]
經營范圍:儀器儀表、電子產品、電控自動化設備、機械設備及配件、計算機軟硬件及配件(除計算機信息系統安全專用產品)、機電設備及配件、實驗室耗材批發零售;儀器儀表維護,商務信息咨詢,企業營銷策劃。【依法須經批準的項目,經相關部門批準后方可開展經營活動】[已認證]
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