彎曲試驗臺200N
“頂視”和“側視”是指從“電子束”的方向觀測樣品，而不管設備是光學顯微鏡、原子力顯微鏡或掃描聲學顯微鏡。
產品概述：彎曲試驗臺200N
“頂視”和“側視”是指從“電子束”的方向觀測樣品，而不管設備是光學顯微鏡、原子力顯微鏡或掃描聲學顯微鏡。
產品規格彎曲試驗臺200N
3點－和4點－彎曲試驗臺模塊, 200 N
該多用途產品允許從頂部或側部觀測樣品，或者在不同顯微鏡平臺間切換，而無需將樣品從彎曲臺中取出和改變所施加的應力。
應用
一定機械應力下樣品表面變化的靜態或動態觀測，裂紋生長，分層現象，滑移面形成等。
金屬, 陶瓷, 玻璃, 陶瓷塊體材料或薄膜, 電鍍層, 焊球或焊點, 礦物, 木材, 有機材料。
性能參數
● 負荷范圍: from 0 ... 0.2 up to 0 ... 200N
● 樣品尺寸 (大尺寸): 48 x 10 x 4 mm
● 變形速度范圍: 0.5 to 100 µm/sec.
● 彎曲變形范圍: 0 to 5 mm(根據試驗不同變化）
● 電源: 220 or 110 V AC.
● 尺寸（mm, W×H×L）: 40 x 40 x 180
控制器
手動控制器和電腦軟件自動控制可選
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