摘要中圖儀器輪廓儀接觸式測量儀采用超高精度衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能伺服驅(qū)動電機、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，實現(xiàn)對工件表面粗糙度和輪廓進行高精度測量和分析。測針會自動接觸工件表面，并按設(shè)定的位置掃描；可高精度地測量精密加工零部件的粗糙度和輪廓形狀，...

摘要 中圖儀器3d視覺輪廓儀測量中提供自動多區(qū)域測量功能、批量測量、自動聚焦、自動調(diào)亮度等自動化功能。分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。

摘要 中圖儀器3d輪廓掃描儀是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。

摘要中圖儀器3d光學(xué)輪廓儀高精度測量儀在同等放大倍率下，測量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲...

摘要 BX-H165便捷式高精度高頻近區(qū)電磁場強測量儀專門用于測定中短波范圍近區(qū)場的電場和磁場強度，主要應(yīng)用于勞動保護、環(huán)境監(jiān)測、衛(wèi)生防疫等工作中。

摘要 BX-H151紫外輻照計寬譜線功率測量儀是寬譜線功率測量儀，主要用于測量紫外線的輻射能功率密度，即每平方厘米的輻射能功率。

摘要 中圖SuperViewW1三維光學(xué)表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，通過利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。

摘要 數(shù)顯粉末密度測試儀運用范圍：硫化橡膠、非泡沫塑料、炭素真密度、巖石、煤真密度、水泥粉末、陶瓷材料、天然石材、土壤真密度等研究實驗室。

摘要 粉末真密度測定儀運用范圍：硫化橡膠、非泡沫塑料、炭素真密度、巖石、煤真密度、水泥粉末、陶瓷材料、天然石材、土壤真密度等研究實驗室。

摘要?SJ5730-100國產(chǎn)輪廓測量儀器具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測量范圍，分辨率達(dá)到1nm或更高，可以一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù)。儀器配置了特殊分離式操作桿，操作桿在儀器操作移動時，可放置在任何位置控制操作，在測量工件前對測針進行粗定位；在脫離電腦...

摘要 白光干涉顯微測量儀，非接觸、三維白光掃描干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。

摘要 光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。有非接觸式無損檢測，一鍵分析、快速高效的優(yōu)點。

摘要 光學(xué)3D表面輪廓測量儀，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。非接觸式無損檢測，一鍵分析、快速高效

摘要 一鍵批量分析白光干涉測頭,是一款非接觸式精密光學(xué)測頭，其基于白光干涉和精密掃描研制而成，主要由光學(xué)干涉系統(tǒng)和Z向掃描系統(tǒng)組成，具有體積小、重量輕、便攜的特點

摘要振實密度儀/振實密度計（中西器材） 型號:JX93-HY-100(A)庫號：M218255 振實密度測試儀簡介粉體密度是指單位體積的粉體所對應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實密度是指將盛在容...

摘要中圖儀器3d光學(xué)輪廓儀國內(nèi)品牌的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統(tǒng)的配合下，分辨率可達(dá)0.1nm。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取...

摘要 BX-G309鋼弦式軸力計（反力計）能長期測量基礎(chǔ)對上部結(jié)構(gòu)物的反力，鋼支撐的軸力及靜壓樁試時的載荷。

摘要OP光學(xué)輪廓儀主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓，也能測量晶圓翹曲度，適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。也稱為白光干涉儀 (WLI)，是一款以白光干涉技術(shù)為原理，能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器。測量三...

摘要 DTN-500G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-500G最小刻度：0.2N測量范圍

摘要 DTN-300G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-300G最小刻度：0.1N測量范圍：0.3N～3N表盤讀數(shù)：0.3-3-0.3重量：56g

摘要 DTN-150G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-150G最小刻度：0.05N測量范圍：0.15N～1.5N表盤讀數(shù)：0.15-1.5-0.15重量：56g

摘要 DTN-100G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-100G最小刻度：0.05N測量范圍：0.1N～1N表盤讀數(shù)：0.1-1-0.1重量：56g

摘要 DTN-50G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-50G最小刻度：0.02N測量范圍：0.06N～0.5N表盤讀數(shù)：0.06-0.5-0.06重量：56g

摘要 DTN-30G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-30G最小刻度：10mN測量范圍：30mN～300mN表盤讀數(shù)：30-300-30重量：56g

摘要 DTN-10G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-10G最小刻度：5mN測量范圍：10mN～100mN表盤讀數(shù)：10-100-10重量：56g

摘要 DTN-5標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DTN-5最小刻度：2mN測量范圍：6mN～50mN表盤讀數(shù)：6-50-6重量：54g

摘要 DT-500G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-500G最小刻度：20gf測量范圍：60gf～500gf表盤讀數(shù)：60-500-60重量：56g

摘要 DT-300G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-300G最小刻度：10gf測量范圍：30gf～300gf表盤讀數(shù)：30-300-30重量：56g

摘要 DT-150G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-150G最小刻度：5gf測量范圍：15gf～150gf表盤讀數(shù)：15-150-15重量：56g

摘要 DT-100G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-100G最小刻度：5gf測量范圍：10gf～100gf表盤讀數(shù)：10-100-10重量：56g

摘要 DT-50G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-50G最小刻度：2gf測量范圍：6gf～50gf表盤讀數(shù)：6-50-6重量：56g

摘要 DT-30G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-30G最小刻度：1gf測量范圍：3gf～30gf表盤讀數(shù)：3-30-3重量：56g

摘要 DT-10G帶置位針-雙針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-10G最小刻度：0.5gf測量范圍：1gf～10gf表盤讀數(shù)：2001/10/1重量：56g

摘要 DT-500標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-500最小刻度：20gf測量范圍：60gf～500gf表盤讀數(shù)：60-500-60重量：54g

摘要SJ5800國產(chǎn)粗糙度輪廓檢測儀操作便捷，功能廣泛，可對各種工件輪廓的幾何參數(shù)進行測量。系統(tǒng)實時顯示掃描輪廓曲線圖，一次測量即可評價輪廓尺寸和粗糙度參數(shù)，對測量得到的零件輪廓形狀數(shù)據(jù)，用擬合的方法來評定圓弧、角度、傾斜、距離等輪廓尺寸及形位公差。可測量圓弧半徑、直線度...

摘要1、浸液法中，選擇不溶解試樣面易潤濕試樣顆粒表面的液體是十分重要的。2、對于陶瓷原料如長石，石英和陶瓷制品一般可用蒸餾水作為液體介質(zhì)。3、對水可能起作用的材料如水泥則可用煤油或二甲笨等有機液體介質(zhì)。4、對無機粉體一般多選用有機溶劑。5、當(dāng)粉末*浸入液體中，必須*排除其...

摘要除主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，SuperViewW1便攜式3D輪廓測量儀具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。通過利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)...

摘要?W1光學(xué)3d表面輪廓儀器能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，除主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量...

摘要 w1光學(xué)3D表面輪廓儀主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，具有測量晶圓翹曲度的功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。

摘要 DT-300標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-300最小刻度：10gf測量范圍：30gf～300gf表盤讀數(shù)：30-300-30重量：54g

摘要 DT-150標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-150最小刻度：5gf測量范圍：15gf～150gf表盤讀數(shù)：15-150-15重量：54g

摘要 DT-100標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-100最小刻度：5gf測量范圍：10gf～100gf表盤讀數(shù)：10-100-10重量：54g

摘要 DT-50標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-50最小刻度：2gf測量范圍：6gf～50gf表盤讀數(shù)：6-50-6重量：54g

摘要 DT-30標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-30最小刻度：1gf測量范圍：3gf～30gf表盤讀數(shù)：3-30-3重量：54g

摘要DT-10標(biāo)準(zhǔn)型-單針指針式張力計日本TECLOCK得樂產(chǎn)品品牌：日本TECLOCK得樂名稱：指針式張力計型號：DT-10最小刻度：0.5gf測量范圍：1gf～10gf表盤讀數(shù)：2001/10/1重量：54g產(chǎn)品用途：1、用于測量按鍵，小型開關(guān)等物品的瞬間牽動力，壓縮...