摘要 鍍層標準片鍍層標準片美國Kocour金屬加工行業是一的，Kocour享有高品質的產品和服務,具有聲譽。購買Kocour的產品，您可能會驚喜于產品設計，生產范圍，質量和性能。[訂購此產品]

摘要金屬鍍層膜厚儀韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對...

摘要 Nexview™ NX2 光學輪廓儀是為更高應用需求設計的，集精密、*算法、應用靈活性和自動化為一體，很大程度展現了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術的能力。

摘要 Nexview™9000 3D光學輪廓儀

摘要 DynaFiz™ 動態測量

摘要 300mm通用組合水平式檢測干涉儀

摘要 通用組合水平檢測干涉儀

摘要 產品用途：結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測

摘要ZLMIC-550DIC工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察, DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動...

摘要 相移剪切電子散斑干涉儀簡介：剪切電子散斑干涉術是一種測量離面位移導數場的激光干涉測量新技術

摘要 三維云紋干涉儀簡介：三維云紋干涉儀是由云紋干涉光路和泰曼/格林干涉光路組合而成

摘要 一維面內位移相移電子散斑干涉儀簡介：電子散斑干涉術是繼全息干涉術之后發展起來的一種實驗力學新方法

摘要一維離面位移相移電子散斑干涉儀TS-SI-1ZP型一維離面位移相移電子散斑干涉儀一維離面位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表離面位移的干涉條紋，配以穩定的三點彎曲梁加載實驗裝置和圓盤受均布載荷（氣壓）或集中力實驗裝置，使得整個系統穩定可靠，易于調節，可以獲得很好的教學...

摘要 三維相移電子散斑干涉儀產品型號：TS-SI-3P相移電子散斑干涉（ESPI）技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發展起來的一種實驗力學新方法

摘要 Thorlabs 剪切干涉儀 25.4-50 mm光束直徑根據所用剪切板的不同，剪切干涉儀可用于直徑小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉儀產生的干涉條紋對光束發散很敏感，因此可以用來定性地確定光是否準直。

摘要 F-SLGS1040雙棱鏡干涉實驗調整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論

摘要 F-DGS1160多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）調整兩個反射鏡之間的相對位置，使之平行，形成F-P干涉儀

摘要 F-ZHG2010組合干涉儀組合邁克爾遜干涉儀組合馬赫-曾德爾干涉儀組合薩格奈克干涉儀比較三種干涉儀的不同，并用干涉儀觀察測量空氣壓強與折射率的關系

摘要 F-2020光纖干涉儀光纖端面的處理及耦合以光纖為相干光傳輸路徑，搭制馬赫-曾德爾干涉儀，并通過CCD觀察干涉條紋測量溫度變化對干涉條紋的影響

摘要 F-P掃描干涉儀一種高分辨率的激光光譜分析儀器

摘要 F-YE-ZG-11柱面波干涉演示實驗儀觀察激光通過兩個相交的狹縫以后形成的雙曲線形的衍射圖案

摘要 F-YS-DGG-16多光束干涉演示實驗儀觀察激光通過F-P干涉儀之后形成的多光束干涉圖樣以及激光器的頻率特性；并通過改變兩個發射鏡之間的相對位置，觀察干涉圖樣的變化

摘要 F-YS--30光纖干涉演示實驗儀用光纖作為馬赫-曾特干涉儀的兩背，用CCD攝像頭接收干涉條紋，通過監視器觀察干涉條紋，并通過溫控儀改變一段光纖的溫度，觀察干涉條紋的變化

摘要 F-YS-HPG-21會聚偏振光干涉演示實驗儀觀察會聚偏振光經過LiNbO3晶體后形成的干涉花樣，通過改變加在LiNbO3晶體上的電壓，觀察干涉花樣的變化

摘要 F-YS-SF-02雙縫干涉演示實驗儀觀察激光通過雙縫以后的干涉圖樣

摘要 產品名稱：FSM413紅外干涉測量設備產品型號：FSM413EC,FSM413MOT

摘要 產品特點：1、可實現三維平移、一維旋轉、一維傾斜調整；2、水平平移（X、Y軸）和豎直升降（Z軸）：精密線性滑塊導軌導向，滾珠螺桿驅動，手動旋轉臺作為精調手輪，分辨率小于1μm；3、旋轉傾斜部分臺面大，精研絲杠調整，轉軸無間隙。

摘要 DNC-7P動態干涉儀產品型號：DNC-7P結構緊湊，重量輕35us數據采集時間2448*2048 Pixel,12bit優秀的數據分析和可視化軟件有振動和氣流時進行不敏感的動態測量采用偏振原理同時采集四幅相移圖，因此對震動影響不敏感

摘要 D50中紅外干涉儀產品型號：D50紅外光學元件的表面面型測量

摘要 INF25-LP蓋板干涉儀產品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！

摘要 德國BMT WLIRing 干涉儀

摘要 一、概述本儀器應用光干涉原理、根據中華人民共和國煤炭行業標準MT28-2005《CJG-10型煤礦用光干涉式甲烷測定器》的標準制造的

摘要 一、概述本儀器應用光干涉原理、根據中華人民共和國煤炭行業標準MT28-2005《光干涉式甲烷測定器》及Q/ZADZ03-2005《CJG-100型煤礦用光干涉式甲烷測定器》的標準制造的

摘要一、產品描述PO系列機床測頭采用的3點觸發結構設計，在測頭的內部有一個觸發機構，當測針受外力作用產生徑向或軸向移動時，觸發機構觸發，測頭內部的電路向接收器發出觸發信號，接收器將信號傳送給數控機床，獲得機床各軸位置坐標，再根據不同測量點的數據，計算出需要測量結果。測頭的...

摘要雙向精密自準直儀，采用光學自準直原理和二維測量結構，能對機床，儀器精密導軌和精密平板的運動直線度和平直度，做水平、垂直二維方向的角、線性值精密測量。本儀器具有原理合理，結構簡單，體積小，精度高，使用方便，配以一定的附件后，能擴大使用范圍的特點。工作室應清潔，無振動，電...

摘要采用光學自準直原理、二維測量結構和精密電子技術，能對機床、儀器精密導軌和精密平板的運動直線度和平直度做水平、垂直二維方向的角、線性值的精密測試，工作效率優于目前單向同類儀器以及雙向普通儀器。它依靠現代電子技術大大節省了計算時間，在測試時只需將數據直接采集，通過儀器自動...

摘要 移相干涉條紋分析軟件，實現數字化測量。

摘要 Ka波段微波干涉儀（常壓等離子體診斷）關鍵詞：AtmosphericPlasma,等離子體診斷、常壓等離子體、介電質、放電應用：等離子體診斷

摘要簡單介紹： 干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。干涉顯微鏡6JA配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，同時...

摘要 ZC1633型雙棱鏡干涉實驗儀(光干涉實驗儀)　　主要實驗內容：　　1、觀察光的干涉現象，掌握一種分波前光路實驗雙光束干涉的方法;　　2、用雙棱鏡干涉測量光波波長;　　3、學會雙棱鏡干涉光路的共軸調節方法

摘要 最近，德國LEICA推出了新一代薄膜測厚儀DRM1000以應對微電子，半導體產業的新高潮

摘要 儀器簡介：電子散斑干涉(ESPI)技術是一種非接觸式全場實時測量技術,因其通用性強、測量精度高、頻率范圍寬及測量簡便等優點，電子散斑干涉無損檢測技術可以完成位移、應變、表面缺陷和裂紋等多種測試

摘要 儀器簡介：光的干涉和衍射是重要的光學現象之一，本裝置將干涉實驗和衍射實驗集成為一個實驗裝置，既可以進行光的干涉實驗比如雙棱鏡干涉，楊氏雙縫干涉實驗等；又可以進行光的衍射實驗比如夫瑯禾費単縫衍射等

摘要儀器簡介：LYS-4A根據傳統的光的干涉衍射實驗設備的不足,研制出了新的光的干涉衍射實驗儀.按照實驗需要組合成相應儀器.該實驗儀既可以用于光學演示實驗,也可以作為光學專用的實驗儀器干涉衍射實驗裝置將干涉實驗和衍射實驗集成為一個實驗裝置，既可以進行光的干涉實驗又可以進行...

摘要 儀器簡介：本款精密干涉儀可開展邁克耳遜干涉，法布里-珀涉，棱鏡干涉和透鏡干涉實驗