摘要 XL-80激光干涉儀

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6000激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、測速下分辨率高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、...

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。SJ6800高精度激光干涉儀集光、機、電、計算機等技術于一體，產品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時；采用激光雙縱模熱...

摘要 XD激光干涉儀

摘要 5D/6D激光干涉儀是API的產品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差。在通常情況下需要數天時間進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成，實際應用結果表明，節省時間可達80%。

摘要Verifire™ Asphere™激光干涉儀在ZYGO工業級Metropro軟件平臺上運行。除了具有測量非球面的能力，還能作為平面、非球面和曲率半徑測量的立體終端。Verifire™ Asphere™激光干涉儀*的軟件...

摘要 可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

摘要GPI激光干涉儀可應用于：平面和球面的面形檢測;平面楔角測量、直角棱鏡的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光學材料均勻性測量;GPI激光干涉儀可應用于角錐角度和面形偏差測量 ;精密盤片質量檢驗 ;三平板優良測量 ;雙球面優良測量 ;靜態干涉條紋判斷 ;澤尼克多項式分析 ...

摘要 Verifire™ QPZ激光干涉儀

摘要 Verifire™ XPZ激光干涉儀

摘要 高精度的光學元件和光學系統需要高性能的測量技術和方法

摘要DynaFiz 激光干涉儀:在空氣湍流和振動的環境下進行動態測量 ;DynaFiz 激光干涉儀優化的光學系統提供了清晰可見的中間空間頻率特征 ;LivePhase™ 軟件可以進行實時Zernike分析 ;Movie模式獲取隨時間變化的波前 ;DynaFiz...

摘要SJ6000激光干涉儀 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。集光、機、電、計算機等技術于一體，產品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時...

摘要Chotest SJ6000激光干涉儀 產品簡介：SJ6000激光干涉儀產品采用美國進口高穩頻氦氖激光器、激光雙縱模熱穩頻技術、高精度環境補償模塊、幾何參量干涉光路設計、高精度激光干涉信號處理系統、高性能計算機控制系統技術，實現各種參數的高精度測...

摘要 雷尼紹激光干涉儀

摘要 激光干涉儀

摘要 ZYGO 大口徑激光干涉儀由4英寸激光干涉儀主機經過擴束為大口徑系統，通常為雙通道，即4英寸測量通道和大口徑測量通道，具有多種高精度測量模式，如相位調制、波長調制、動態測量等。

摘要 SJ6800激光干涉儀

摘要 產品風格：一鍵測量儀 產品簡介：SJ6000激光干涉儀...

摘要 雷尼紹激光干涉儀系統 XL-80

摘要 F-YPGS3060激光干涉儀He-Ne激光器的穩頻、線偏振光、圓偏振光、晶體雙折射、1/4波片、1/2波片、圓偏振光的分解與合成、邁克爾遜干涉儀，壓電效應，偏振分光棱鏡，角錐棱鏡鏡、圓偏振光干涉，干涉信號的拾取與處理、微小位移位移的精密測量

摘要 F-SPJG3050雙頻激光干涉儀激光的塞曼效應He-Ne激光器在縱向磁場中的塞曼分裂

摘要 1.產品簡介PhaseCam6000系列干涉儀是美國4D技術公司的經典產品，適用于大口徑，長距離光學組件和系統的測量

摘要 1.產品簡介PhaseCam6110高分辨率類型激光干涉儀是PhaseCam6000系列激光干涉儀的另一種型號，有助于提高大孔徑光學元件表面測量的分辨率，適用于數字處理和高分辨率系統調整

摘要 130mm紅外激光干涉儀產品型號：INF130-IR-LS635nm可見光共軸對準，操作方便工程化程度高，性能優良，使用可靠

摘要 INF60-LP激光平面干涉儀產品型號：INF60-LP平面光學元件表面面型測量

摘要 INF150-LP激光平面干涉儀產品型號：INF150-LP平面光學元件的表面面型測量平面光學元件平行度測量

摘要 INF450-LP-WM激光平面數字干涉儀產品型號：INF450-LP-WM成像質量良好，結構簡潔臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調諧相移解相分析系統

摘要 INF150V-LP激光數字平面干涉儀產品型號：INF150V-LPINF150V-LP激光數字平面干涉儀主要用于生產現場平面元件的數字化測量！

摘要 INF300V-LP激光平面干涉儀產品型號：INF300V-LP測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF200V-LP激光平面干涉儀產品型號：INF200V-LP中大口徑光學元件平面面型精度測量對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF600-LP-WM激光平面干涉儀產品型號：INF600-LP-WM雙端口檢測大口徑平面元件面型檢測光學材料均勻性測量元件面型分析，光學數據處理

摘要 INF300H-LP-WM激光平面干涉儀產品型號：INF300H-LP-WM測量光學平面面型精度測量光學元件的材料均勻性對干涉條紋進行數據分析處理，給出檢驗報告

摘要 INF800-LP-WM激光平面數字干涉儀產品型號：INF800-LP-WM成像質量良好 臥式結構，雙端口測量操作方便，使用簡單波長調諧相移解相分析系統

摘要 簡介：激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 機床導軌線性測量、參數校正

摘要G60UP激光平面干涉儀通光口徑為60mm ,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能。G60DP激光平面干涉儀通光口徑為＜P60mm ,鏡頭下置，用于平面元件的低量快速檢測。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、啕瓷等）表面面形、透過波前、光學平行度和材料均勻性的測試，...

摘要G30 G60 激光干涉儀通光口徑為30mm,60mm,儀器具備良好的隔振性能。用于平面檢測（透過、反射），標準鏡頭有F0.6, F0.7,F1.0, F1.4, F2.0, F2.8, F5.6,可定制其他F數的鏡頭；也可選配平面標準鏡及相關治具測量平面鏡。 ...

摘要G60UII正立式激光干涉儀通光口徑為60mm,鏡頭上置，儀器具備良好的隔振性能，適合光學車間現場的制程檢驗，拼盤檢驗，小批量多品種的光學鏡片檢驗。標準鏡頭有F0.6 , F0.7 , F1.0 , F1.4 , F1.5 , F2.0 , F2.8 , F3.3 ,...

摘要S100D倒置式激光干涉儀通光口徑為100mm ,鏡頭下置，儀器具備良好的隔振性能，適合車間大尺寸球面透鏡和平面鏡的大批量快速檢驗。標準鏡頭有F0.65 , F0.75 , F1.0 , F1.5 , F2.2 , F3.3 , F5.0 , F7.1, F10.7 ...

摘要立式激光平面干涉儀為正立式結構，通光口徑有200mm,150mm和100mm三種，適合平面元件的快速測試。 G200M,G150M和G100M專為計量和科研需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6倍圖像放大功能，高精度的成...

摘要在有些應用，根據樣品的形狀、裝夾方法、或者模擬樣品使用狀態下測量，正立式干涉儀結構相比臥式和倒立式更有優勢。例如半球形球罩面形和曲率半徑的測量，正立式結構能夠實現盤上測量以及下盤后的無夾持應力測量，而臥式結構無法夾持半球，倒立式結構測量盤上時需要支撐樣品和磨盤的重力，...

摘要 嚴格情況下，要求按照元件的使用狀態測量，例如很多窗口、反射鏡和半導體晶圓等。G400U和G300U的通光口徑分別為400mm和300mm。為鏡頭上置、光路向下的結構，適合對樣品的平放測量。

摘要大口徑激光干涉儀有效通光口徑有600mm, 450mm和300mm,均是雙路測量系統：一路是100mm （4英寸）或150mm（6英寸）小口徑測量系統，另一路是大口徑平面測量系統。小口徑系統可以進行平面元件和球面元件的測量。大口徑平面測量系統從100mm口徑擴束到60...

摘要 儀器簡介：ML10Gold高性能激光干涉儀是機床、三坐標測量機及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器