XSJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)另外,本儀器針對(duì)電容式電壓互感器CVT試驗(yàn)困難的特點(diǎn),增設(shè)了外接法測(cè)試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

XSJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測(cè)試回路： 

1、標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測(cè)試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測(cè)試品電容容值（CX）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。 
2、數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。 

XSJS-IV抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照） PH<80%；
2、相對(duì)濕度：30%～70% ；
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±Hz；
4、外形尺寸：長(zhǎng)*寬*高=435mm*300mm*300mm；
5、重量：20kg ；
6、輸出功率：1KVA ；
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）；
8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接法；
9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF 
外接試驗(yàn)電壓：≤10μF ；
10、基本測(cè)量誤差： 介質(zhì)損耗（tgδ）：2%±0.09% 
                   電容容量 （Cx）：1.5%±2PF