詳細(xì)摘要： 美國鍍金電鍍膜厚測試儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達(dá)百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言深圳市金東霖科技有限公司
深圳市金東霖科技有限公司
詳細(xì)摘要： 美國鍍金電鍍膜厚測試儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達(dá)百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的...
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詳細(xì)摘要： 美國鍍金膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。bowman膜厚測試儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線...
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詳細(xì)摘要： 美國bowman鍍金膜厚儀高性能、高精度、*穩(wěn)定性、快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本*化，精確測定元素厚度，優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量.
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詳細(xì)摘要： 美國電鍍鍍金膜厚儀可對應(yīng)于含無鉛焊錫在內(nèi)的合金電鍍或多層電鍍的測量，應(yīng)用范圍廣泛。
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詳細(xì)摘要： 美國bowman半導(dǎo)體膜厚測試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。無數(shù)次的發(fā)明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準(zhǔn)值器...
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詳細(xì)摘要： 美國半導(dǎo)體膜厚測試儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測量.測量更小、更快、更薄MicronX 比現(xiàn)有其它的X...
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詳細(xì)摘要： 美國x射線膜厚測試儀 特點有：1.可測量0.01um-300um的鍍層。2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細(xì)...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體美國膜厚儀可檢測元素范圍：AL13 – U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
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詳細(xì)摘要： 美國博曼x射線膜厚儀采用x射線的熒光原理方法，這是適合測量非鐵性鍍層在鋼材或非鐵性金屬底材上的厚度，甚至鎳層在鋼材上的厚度也可以測量。
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詳細(xì)摘要： 美國進(jìn)口線路板測厚儀有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。行業(yè)用于電子元...
產(chǎn)品型號：xrf-1所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 美國原裝鍍層膜厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可...
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詳細(xì)摘要： 博曼半導(dǎo)體膜厚測試儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
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詳細(xì)摘要： 博曼半導(dǎo)體鍍層膜厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。行業(yè)用于電子...
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詳細(xì)摘要： 博曼x熒光半導(dǎo)體鍍層測厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析...
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詳細(xì)摘要： 博曼線路板電鍍膜厚儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設(shè)計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位...
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詳細(xì)摘要： 博曼臺式鍍層膜厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄MicronX 比現(xiàn)有其它的XR...
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詳細(xì)摘要： 博曼X射線熒光膜厚儀新型號設(shè)計，快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度，多款規(guī)格，例如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型，開槽式樣品艙可檢測大面...
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詳細(xì)摘要： 博曼半導(dǎo)體熒光膜厚儀的優(yōu)勢有高性能、高精度、*穩(wěn)定性：快速精確的分析帶來生產(chǎn)成本*化，精確測定元素厚度，優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量.堅固耐用的設(shè)計：可靠近生...
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詳細(xì)摘要： 博曼pcb板熒光測厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。測...
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詳細(xì)摘要： 美國BOWMAN（博曼）線路板X-RAY測厚儀是利用X射線進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。Bowman是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的...
產(chǎn)品型號：xrf-1所在地：深圳市更新時間：2018-05-15 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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