美國bowman半導體膜厚測試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。無數次的發明,包括使用DCM自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調校.
X-射線管的距離也可測量，操作人員只需要調校樣品焦距便可以測量。博曼膜厚儀提供：
（1）無損分析：無需樣品制備
（2）經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
（3）操作簡單，只需要簡單的培訓
（4）分析只需三步驟
（5）杰出的分析準確性和精確性
（6）在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
（7）使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
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二手膜厚儀回收及評估
專業從事進口X熒光光譜儀 X射線測厚儀維修校準的服務商。提供檢修更換X光管、高壓電源、探測器、控制電路板等核心部件、并升級或者以舊換新、以壞換好。
另我們*收購/出售二手X射線鍍層測厚儀、膜厚儀、測厚儀等分析檢測儀器。
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德國菲希爾 FISCHER X-RAY XDLM-C4 XMDVM-T7.1W XDL-B XUL XULM XDV-u 、膜厚儀。
