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卡片材料彎扭試驗機
HY（IC）卡片材料彎扭試驗機技術參數:本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...

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南京IC卡動態彎扭試驗機
南京IC卡動態彎扭試驗機產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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IC卡動態彎曲試驗機
IC卡動態彎曲試驗機產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

型號： HY-IC 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/8/16 21:41:33 對比

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HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備
HY（IC）IC卡動態彎扭試驗機設備本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用先進的同步帶傳動，非接觸式光電計數，15...

型號： HY（IC）所在地：上海市參考價：面議更新時間：2024/8/16 13:04:13 對比

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IC芯片卡彎扭試驗機
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四點彎曲試驗機
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