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日本hitachi(cosmopia)低溫低濕箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、...

高壓蒸煮試驗箱PC-242HSA該設(shè)備主要用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。為了提高試驗效...

日本hitachi(cosmopia)冷熱沖擊試驗箱為進口的冷熱沖擊試驗箱，可根據(jù)用戶要求設(shè)計制造，適用于航空、航太、軍工、艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機及零部件的...

HIRAYAMA高加速壽命試驗箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗中自動鎖緊，安全可靠。通過緩...

導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。

J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。離子遷移實驗裝置 絕緣...

日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱恒溫恒濕箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通...

日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱，恒濕恒溫箱是指能同時施加溫度、濕度應力的試驗箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐...

日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車...

日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱，用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。日立環(huán)境試驗設(shè)備的核心部分，采用渦...

日本hitachi(cosmopia)恒溫恒濕箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車...

Analysis熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱...

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF），在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

離子遷移實驗裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻...

日本hitachi(cosmopia)液槽沖擊試驗箱采用渦旋式壓縮機，使其在低溫領(lǐng)域也能實現(xiàn)高效和穩(wěn)定的運行。不論是在提高各類產(chǎn)品的可靠性方面還是在食品、化學、...

J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生...

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短...

HIRAYAMA公司專業(yè)從事研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、高壓殺菌器，醫(yī)療設(shè)備，HIRAYAMA高加速壽命試驗箱 HAST/PCT設(shè)備。高加速壽命試驗箱

HIRAYAMA高加速壽命試驗箱具備 非飽和/飽和控制 兩種模式。具備可記錄150個程序的控制器，操作簡單方便。箱門采用按鈕式，試驗中自動鎖緊，安全可靠。通過緩...