詳細摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度
產品型號:所在地:上海更新時間:2022-08-15 在線留言明茲精密儀器(上海)有限公司
詳細摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度
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