當前位置：天津諾雷信達科技有限公司>>物理光學儀器>>干涉/衍射/偏振光>> SGC-1A橢圓偏振測厚儀-光學儀器
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業 | 其他 |
SGC-1A橢圓偏振測厚儀近代科學技術的許多學科對各種薄膜的研究和應用日益廣泛，因此，測得薄膜厚度和光學參數已變得更加迫切和重要。在實際工作中，常常使用橢圓偏振法來進行測量。這種方法測量靈敏度和精度較高，并且是非破壞性測量。他能同時測定薄膜的厚度和折射率。
本產品為手動方式調節儀器，測量薄膜的厚度和光學參數。清晰的展示了橢圓偏振測厚儀的各個部件的結構功能，調節方法，使用戶可詳細的了解橢圓儀的原理結構，并培養其動手操作能力。
SGC-1A橢圓偏振測厚儀參數
編號 | 名稱 | 參數 |
1 | 測量范圍 | 1nm-300nm |
2 | 測量小值 | ≤1nm |
3 | 入射角 | 30°～90°誤差≤0.1° |
4 | 偏振器方位角讀數范圍 | 0°～180° |
5 | 度盤刻度 | 每格2度 |
6 | 游標小讀數 | 0.05° |
7 | 光學中心高度 | 152mm |
8 | 工作臺直徑 | φ70mm |
9 | 外形尺寸 | 730mm×230mm×290mm |
10 | 主機重量 | 20kg |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，儀表網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
儀表網