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ST-21型方塊電阻測試儀以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小...

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計...

PN-30型導電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多...

PN-12型導電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多...

LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量，是半導體的常規測試項目...

CV-2000型電容電壓特性測試儀作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN...

CV-5000型電容電壓特性測試儀在集成電路特別是MOS電路的生產和開發研制中，MOS電容的C-V測試是極為重要的工藝過程監控測試手段，通過C-V測試達到優化生...

100A/20A四探針金屬/半導體電阻率測量儀是100A/20（及100A/2）的升級版，其為用戶提供了使用100A/20進行四探針測試及實驗的配套軟件，可運行...

RTS-8型四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試半導體材料...

RTS-11型金屬四探針測試儀于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□；是運用四探針...

以往檢測粉塵中游離二氧化硅含量, 均采用《作業場所空氣中粉塵測定方法》（GB5748—85） 規定的“焦磷酸重量法“, 該方法存在操作步驟復雜、使用試劑種類繁多...

Nolay3022職業衛生粉塵分散度測定儀粉塵分散度測定顯微鏡是我公司專門針對工作場所粉塵檢測需要而開發的*符合國標GBZ/T 192.3—2007的一套顯微圖...