詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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詳細(xì)摘要： 用于一般烘烤制程，電子零組件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn),各產(chǎn)業(yè)零件、部組件之開發(fā)、品質(zhì)管理等相關(guān)要求。
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詳細(xì)摘要： 用于一般烘烤制程，電子零組件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn),各產(chǎn)業(yè)零件、部組件之開發(fā)、品質(zhì)管理等相關(guān)要求。
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詳細(xì)摘要： 用于一般烘烤制程，電子零組件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn),各產(chǎn)業(yè)零件、部組件之開發(fā)、品質(zhì)管理等相關(guān)要求。
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詳細(xì)摘要： 適用於各半導(dǎo)體，電子連接器, 被動(dòng)元件及各具沾錫之電子産品零件接腳氧化試驗(yàn)金屬接腳粘錫性試驗(yàn)前加速老化試驗(yàn),符合安規(guī)MTL-STP-208F,202等標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號：BN-ZQ所在地：更新時(shí)間：2021-04-07 在線留言
詳細(xì)摘要： 前后之抗拉強(qiáng)度及伸長率。儀器以熱風(fēng)循環(huán)方式，促使試片老化，內(nèi)箱密閉性強(qiáng)，具有抽換內(nèi)箱空氣裝置，設(shè)有超溫自動(dòng)切斷保護(hù)裝置。
產(chǎn)品型號：所在地：拉薩市更新時(shí)間：2021-04-07 在線留言
詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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