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Nanolink SZ902系列納米粒度分析儀是繼在SZ901系列納米粒度分析儀后推出的全新一款高性能動態光散射納米粒度儀產品，加持了真理光學研發的全自動聚焦技術，實現了對納米樣品的多角度測量，無需稀釋即可對不同濃度納米樣品的粒度及Zeta電位快速測量，十分適合各種有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等多種樣品的粒度及Zeta電位研究級分析測試。

Nanolink SZ902納米粒度分析儀的杰出性能和主要特點包括：

◆包含經典90°、背向和前向動態光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm–15μm*

    ◆激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可準確預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性

    ◆加持自動恒溫技術的功率可達50mW,波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

    ◆的余弦擬合相位分析法（CF-PALS）優于目前的頻譜分析法（FFT）和傳統的位相分析法（PALS）

    ◆的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術

    ◆的信號光與參考光的光纖合束及干涉技術

    ◆集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

    ◆常規溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C

    ◆新一代高速數字相關器，動態范圍大于10¹¹

    ◆冷凝控制–干燥氣體吹掃技術

測量原理	動態光散射（DLS）、靜態光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°,173°（高濃度），12°（Zeta電位）
粒徑測量范圍	0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量	3ul*
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量樣品濃度	40%/wv
檢測點位置	距入射點0~5mm可調
檢測點定位精度	0.01mm
Zeta電位技術	余弦擬合位相分析法（CF-PALS）
適用Zeta電位測量的粒徑	任意范圍，無明確限制
遷移率范圍	1nm - 120μm*
電導率	270mS/cm
電導率準確度	±10%
電極	插入式平板電極、U型毛細管電極
分子量范圍	340Da - 2x10⁷Da
溫度控制范圍	-15°C - 120°C
溫度控制精度	±0.1°C
光源	集成恒溫系統及光纖耦合的功率50mW, 波長638nm固體激光器
相關器	高速數字相關器，自適應通道配置
檢測器	高靈敏度APD
樣品池	12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池（多種可選）
系統重量	16kg
外形尺寸	365mm x 475mm x 180mm (LxWxH)