【儀表網 儀表會議】2022年10月14日，中國電子技術標準化研究院組織召開了IEC TC47/SC47E、SC47F兩項國際標準提案的立項論證評審會。國家市場監督管理總局標準創新管理司IEC聯絡處徐全平副處長出席會議并致辭，來自MEMS器件和光電器件等半導體領域的十余位專家代表參加了會議，會議由中國電子技術標準化研究院張玉芹主任主持。
徐全平副處長在致辭中表示，半導體器件是支撐信息技術產業發展的基石，兩項新提案的提出體現了我國半導體器件蓬勃發展的態勢和主動貢獻中國智慧的大國擔當，后續應繼續加強培養復合型標準化人才，針對產業痛點提出具有先導性、獨創性的國際提案，持續推動我國半導體產業高質量發展。
本次會議成立了由中國科學院空天信息創新研究院、中國計量科學研究院、京津冀國家技術創新中心、北京航天控制儀器研究所、浙江大學、上海芯物科技有限公司、北京智慧共享技術服務有限公司等單位的專家組成的評審組，來自北京大學和之江實驗室的提案負責人就MEMS麥克風和CMOS成像氣體傳感器2項國際標準提案匯報了立項背景、目的意義以及標準主要技術內容，評審專家對提案論證報告、標準草案等內容進行了質詢和討論，一致同意提案立項申報，并給出了修改完善建議。
近年來，我國在半導體器件領域國際標準化工作節節攀升，電子標準院和中國電科十三所等國內相關技術對口單位將繼續認真履行職責、主動擔當，持續提升我國在國際標準化領域的影響力和話語權。
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