美國博曼(Bowman)BA100系列MFF型鍍層測厚儀按照應用的不同擁有多種不同的稱謂:鍍層膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳測厚儀、支架測厚儀、X-Ray測厚儀、金厚測試儀、銀層測厚儀、臺式膜厚儀、X射線測厚儀、測厚儀、膜厚儀等。
A100系列MFF型鍍層測厚儀:美國博曼BA100系列多準直器固定臺鍍層測厚儀,是原CMI公司的研發團隊在2000年被牛津儀器收購后整體重新組建的K alpha公司,經過多年的醞釀、研發并于2010年發布的Bowman品牌的鍍層測厚儀;廣泛應用于如下領域:PCB、FPC、SMT、LED、連接器、端子、緊固件、五金、汽車零部件、衛浴等行業。主要用于產品鍍層厚度測量、元素分析、鍍液分析。
美國博曼(Bowman)BA100系列MFF型鍍層測厚儀系統:
- 配置4個準直器的多準直器系統
- 標準規格:Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm
- 可選規格:①0.05x0.25、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm;②0.05x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm;③0.025x0.05、Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3m
美國博曼(Bowman)BA100系列MFF型鍍層測厚儀工作原理:利用X射線照射產品樣品,樣品的不同元素發出不同能量大小的二次X射線熒光,儀器分析熒光的波長和能量大小從而無損計算出鍍層的厚度。
美國博曼(Bowman)BA100系列MFF型鍍層測厚儀特性:
- 測量元素范圍為Ti22--U92
- 可同時測5層鍍層(4層鍍層+1層基材層)
- 成份分析zui多可達25種元素
- 測量精度高,測量結果精確至μin
- 測量單位可選擇um、uin、mils、nm
- 配備Si-Pin高分辨半導體固態探測器,有效區分相鄰元素的譜峰,提高穩定性和靈敏度
- 開機預熱時間短,15秒左右即可正常進行測量工作
- 儀器與電腦僅需一根USB線連接,有效避免各種干擾,減少出錯幾率
- 電腦無需專門的視頻卡,節省成本
- 儀器前置面板設置有測量機構上下移動按鈕、測量的快捷按鈕
- 配備高分辨率彩色CCD樣品觀察系統,標準光學放大倍數為30倍,具有測量位置預覽功能
- 基于Net framework框架的Xralizer軟件,均有直觀的圖標引導用戶操作的界面
- 具有輔助的紅點鐳射聚焦功能,有效避免人為測量誤差
- Z軸程控聚焦,可測外形高度≤132mm的產品
- Xralizer軟件下的強大的報告編輯軟件,可按客戶需求編輯報告,
- 產品報告可以直接打印,也可轉換成PDF、RTF、Excel、Text、Image等文件,
- 產品報告可自動顯示每次測量點的圖片,可顯示:均值、標準偏差、zui大值、zui小值、波動范圍,CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數據分組、X-bar/R圖表、直方圖等
- 開放型的鍍層應用可由客戶依據引導圖標自行建立
美國博曼(Bowman)BA100系列MFF型鍍層測厚儀的工作倉:
- 開槽式工作臺
- XY軸手動,Z軸程控,程控行程≤132mm
- 工作倉內部尺寸(寬×深×高):310×390×132mm