摘要 Glacios 冷凍透射電子顯微鏡

摘要 CT-NANO多功能掃描電子顯微鏡

摘要 *的JSM-7610F的光學系統經過改進，實現了分辨率（15kV0.8nm、1kV1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相

摘要 JEOL新一代FE-SEM旗艦機型

摘要 JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡

摘要 JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案

摘要 JEOLInTouchScope系列的新機型,采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用*集成的軟件大大地提高了作業速度

摘要 JSM-IT500是JEOLInTouchScope系列的新機型

摘要 JSM-7200F的電子光學系統應用了日本電子旗艦機-JSM-7800FPrime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配TTLS系統（Through-The-LensSystem），無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統機型有了很大的提升

摘要 簡介場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z200FSCCRYOARMTM200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統

摘要 簡介場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC(CRYOARM300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子

摘要 簡介從生物技術到納米技術、高分子和高新材料，JEM-1400Flash被廣泛應用在多個領域，而且用途越來越廣

摘要 JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽卓著的JEM-2100的電子光學系統，還增加了的控制系統，大幅提高了可操作性

摘要 簡介NEOARM標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）

摘要 JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡

摘要 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗

摘要 JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右

摘要 EVOLS用于工作流程自動化的高清晰掃描電子顯微鏡蔡司EVO系列可以將高清晰掃描電子顯微鏡用于高性能自動化工作流程

摘要 掃描電子顯微鏡

摘要 Talos*科技集于一身Talos是新一代TEM產品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數據，從而專注于研究發現

摘要 HeliosNanoLabDualBeam一直以來，HeliosNanoLab都綜合采用了FEI的電子和離子光學系統、配件和軟件，能夠為納米量級研究提供強大的解決方案

摘要 DualBeam顯微鏡SciosDualBeamThermoScientificSciosDualBeam是一款高分辨率DualBeam分析系統，能以出色的2D和3D性能分析包括磁性材料在內的眾多樣品

摘要 掃描電子顯微鏡Apreo功能豐富的高性能SEMApreo復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生高分辨率和信號選擇

摘要 PrismaSEMThermofisherPrimsa掃描電子顯微鏡(ESEM)

摘要 JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡

摘要 日立超高分辨率冷場發射掃描電子顯微鏡現有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100

摘要①SU3900掃描電子顯微鏡標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察■樣品臺可搭載超大/超重樣品通過更換樣品提示，可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品選配樣品交換倉，可在主樣品倉保持真空的狀態下快速更換樣品，大大提高了工作效率具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由...

摘要PDOK單目顯微鏡數碼電子放大鏡OKV300高清顯示器VGA接口維修視頻放大200倍OKV300視頻顯微鏡配10寸顯示器OOK-V大底板380mm x 260mm x 240mm支架高清300相素工業相機10寸顯顯示器放大倍數25-160X升降距離：240mm中心工作...

摘要國儀量子鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡。觀察亞微米級的微觀結構，放大倍數可達300000倍。此型產品具有快速更換燈絲的優點。其分辨率可達3 nm，在自動五軸樣品臺的配合下，非常適用于生產品質控制及樣品篩選，適合傳統光學顯微鏡無法滿足需求的用...

摘要國儀量子場發射掃描電子顯微鏡SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發射掃描電子顯微鏡。*的鏡筒設計，高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，實現了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設計的人機交互，優化的操作...

摘要 透射電子顯微鏡與輔助工具

摘要 JEM-3100F 透射電子顯微鏡

摘要 JSM-7600F掃描電子顯微鏡

摘要 JSM-6510掃描電子顯微鏡

摘要掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是，①有較高的放大倍數，20-20萬倍之間連續可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③...

摘要 電子顯微鏡

摘要 SEM掃描電子顯微鏡用于材料和生命科學的掃描電子顯微鏡EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶

摘要1、主要功能及應用范圍：FEITECNAIG2F20儀器配備了STEM,EDX,CCD,HAADF等多種附件，能獲取TEM明場、暗場像高分辨像和選區電子衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數像的分析，STEM結合EDX點、線、面掃描的可以進行微區能譜分析，...

摘要CCD電子顯微鏡將顯微成像通過圖像傳感攝像機，在視頻顯示器放大觀察，可以對電子行業的PCB板，及機械零部件、工藝品、印刷品等進行微觀研究。物鏡的放大倍率連續可調，且具有大視場和長工作距離，掃描電鏡是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態。用極細的電子束在樣品表面掃描...

摘要 SXT型砂體視顯微鏡Stereo microscope

摘要 日立S-3400N電子顯微鏡 SEM電鏡1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

摘要 一

摘要 【產品名稱】：20X，40X體視顯微鏡【產品規格】：XTL4400顯微鏡，雙目觀察顯微鏡【詳細內容】體視顯微鏡主要用來檢測需要放大的物體

摘要 產品描述·SZ6000采用遠平行光學系統，擁有的光學性能

摘要 品牌：上海光學 型號：XTZ-D 加工定制：否 類型：體視 目鏡放大倍數：10X 物鏡放大倍數：4.5X 儀器放大倍數：450X 重量：6000 g