摘要 集優異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發揮其高性能。SU390

摘要掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合...

摘要 日立掃描電子顯微鏡SU8700

摘要 產品參數產品編號:所屬品牌:JEOL產品型號:JEM-2100Plus額定功率：按實際方案提供所屬類別:掃描電鏡所屬用途:金相組織觀察應用領域:產品特性:功能高度整合

摘要 特點日立的雙隙物鏡設計

摘要 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136nm

摘要 超高分辨觀察和分析能力日立的高亮度肖特基場發射電子槍可同時支持超高分辨觀察和快速微束分析

摘要 集優異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發揮其高性能

摘要 新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗，使用起來非常直觀

摘要 FlexSEM1000II“的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設計，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 專門為電子束敏感樣品和需**300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計

摘要 產品型號：B008產品類別：便攜式手動數碼顯微鏡產品特色：高清晰、高精度手動調焦顯微鏡

摘要 JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡，應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術，標配了TTLS系統（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統機型有了很大的提升。

摘要 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

摘要 JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡，實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。

摘要 JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發揮其性能。

摘要Serial Block-face SEM 3View 發射掃描電子顯微鏡，肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構，可以對精細結...

摘要 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，因而能獲得令人驚嘆的高畫質圖像。即使對實時圖像，也能輕松地在CCD圖像上從尋找視野迅速過渡到高倍率（100,000）觀察。

摘要 JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

摘要 JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

摘要 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

摘要 JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡，以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

摘要 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。

摘要 JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要 JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡發，標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。

摘要型號：JetSCAN產品介紹：JetSCAN用于航空發動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡.JetSCAN：專用于航空發動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡JetSCAN整體解決方案中集成了強大的數據分析和風險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態監測的*診斷與預測...

摘要 型號:Sigma系列產品介紹：Sigma系列產品用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡.靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件

摘要 型號：ParticleSCANVP產品介紹：ParticleSCANVP:配有SmartPI用戶界面的堅固耐用型掃描電子顯微鏡.ParticleSCANVP：開創工藝過程控制新標準ParticleSCANVP是蔡司掃描電鏡（SEM）家族的新成員

摘要 型號：EVO系列產品描述:EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了...

摘要AFMinSEM 德國 Nano analytik（ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統 ,既可以在大氣環境下實現樣品快速表征，也可以集成在真空環境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對SEM腔室進行任何改造，保留SEM原有功能，賦予...

摘要場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統內最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數個樣品...

摘要 數字化掃描電子顯微鏡2800B數字化電子顯微鏡是生物學、醫學、化學、農林和材料科學等領域進行科學研究的重要工具，電子顯微鏡技術已成為上述各領域研究工作者應掌握的一項基本技能

摘要 數字化掃描電子顯微鏡EM3200數字化掃描電子顯微鏡產品在電器控制系統、計算機系統、操作控制軟件、圖像控制系統、圖像處理軟件、自動控制功能等諸多方面都進行了改進

摘要 3800B型掃描電子顯微鏡3800B型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產經驗基礎上，引用現代計算機及數字圖象技術，開發出的高性能產品

摘要 美國Delong 透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM),小型臺式多用途電子顯微鏡，透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式，分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）。

摘要 德國Zeiss SIGMA 300 場發射電子顯微鏡，Gemini鏡筒，超高的束流穩定性，的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，X射線分析設計，便越操作系統設計，超大空間，多接口，升級靈活。

摘要 JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。

摘要 JSM-7610FPlus，用于納米科學的肖特基場發射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發射掃描電子顯微鏡，能觀察微細結構和進行微區元素分析。

摘要 型號KP-AF200V自動對焦相機變倍比1:6

摘要 KP-H1660V目鏡0

摘要臺式掃描電子顯微鏡（DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM）,又俗稱“桌上型掃描電鏡”或“MiniSEM”，相較于傳統大型SEM（落地式），臺式SEM具有體積小巧、操作簡便、價格便宜、快速抽真空等優勢，而且它的放大倍數...

摘要 型號KP-9218-B3顯示器11

摘要 主要特點：符合國際視頻1080P標準，分辨率為1920*1080；圖像采樣幀率：60fps/秒高速圖像攝取