摘要 D500 高精度臺(tái)階儀

摘要 D600 高精度探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

摘要 P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

摘要 Kosaka ET150臺(tái)階儀 KOSAKAET150基于WindowsXP系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS及平板顯示等。

摘要 我們做為世界高精度臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀的，是生產(chǎn)悠久的公司

摘要 德國布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀

摘要 產(chǎn)品概述：●高精度．安定性．機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測(cè)定的機(jī)型

摘要這款三維臺(tái)階儀是德國進(jìn)口的高精度光學(xué)臺(tái)階儀器,也是一款光學(xué)表面臺(tái)階儀適合臺(tái)階高度測(cè)量,具有較低的進(jìn)口臺(tái)階儀品牌臺(tái)階儀價(jià)格,適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析,以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺(tái)階高度,距離,...

摘要簡(jiǎn)單介紹 美國KLA-Tencor AlphaStep臺(tái)階儀 膜厚儀 探針接觸式輪廓儀 D-300，它廣泛應(yīng)用于太陽能薄膜材料、半導(dǎo)體硅片、微電子器件、薄膜化學(xué)涂層、平板顯示器等研究領(lǐng)域。在新型薄膜...

摘要KOSAKA 臺(tái)階儀ET4000系列產(chǎn)品概述：● 高精度．安定性．機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測(cè)定的機(jī)型。● 是多機(jī)能的全自動(dòng)微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)，針對(duì)用途及樣品尺寸有多種機(jī)型可供選擇。● ET4000A/ ET4000AK一可實(shí)現(xiàn)2D...

摘要 KOSAKA 臺(tái)階儀產(chǎn)品概述：● ET200A臺(tái)階儀適用于二次元表面納米等級(jí)段差臺(tái)階測(cè)定、粗糙度測(cè)定。● ET200A臺(tái)階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測(cè)量過程及微小的測(cè)定力可對(duì)應(yīng)軟質(zhì)樣品表面。● 該型號(hào)臺(tái)階儀采用直動(dòng)式檢出器，重現(xiàn)性高。

摘要 Alpha-Step D-500臺(tái)階儀探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測(cè)量。 通過測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 Alpha-Step D-600 臺(tái)階儀探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測(cè)量。 通過測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

摘要 P-17 臺(tái)階儀因而具備出色的測(cè)量穩(wěn)定性。 通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡(jiǎn)便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測(cè)量。 并通過圖案識(shí)別、排序和特征檢測(cè)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。

摘要 P-170 臺(tái)階儀因而具備出色的測(cè)量穩(wěn)定性。通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡(jiǎn)便快速。P-170具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測(cè)量。并通過圖案識(shí)別、排序和特征檢測(cè)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。

摘要 P-7 臺(tái)階儀 它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了*的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。

摘要臺(tái)階實(shí)驗(yàn)測(cè)試儀 臺(tái)階測(cè)試儀型號(hào)：LDX-TJCS-II本產(chǎn)品是根據(jù)《中國成年人體質(zhì)測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)》測(cè)試細(xì)則要求和我國少年兒童保健工作常規(guī)檢查內(nèi)容的需要，由我單位設(shè)計(jì)制成的，是一種簡(jiǎn)易評(píng)價(jià)成年人的血心管系統(tǒng)功能的定量負(fù)荷試驗(yàn)。主要通過觀察定量負(fù)荷持續(xù)地運(yùn)動(dòng)時(shí)間、運(yùn)動(dòng)中心血管...

摘要 臺(tái)階儀

摘要DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，Dektak...

摘要 我們?yōu)榭蛻籼峁耐庋悠?芯片-封裝-組裝全產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試解決方案。　

摘要 德國布魯克Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)