量塊是幾何量長度傳遞的基準實物量具,通過多個矩形截面的鋼制或陶瓷塊體組合成精確尺寸,用于高精度長度測量。主要應用于以下領域:
1. 機械制造與精密加工
- 校準卡尺、千分尺等量具的示值誤差,保障軸類、軸承、模具的尺寸公差(如±0.001mm)。
2. 計量機構與實驗室
- 作為長度標準器,傳遞量值至工作計量器具(如00級量塊用于省級計量院檢定精密儀器)。
3. 航空航天與汽車工業
- 檢測發動機零件(曲軸、渦輪葉片)的尺寸一致性,滿足高溫高壓工況的安全要求。
4. 科研與光學制造
- 校準干涉儀、測長機,支撐半導體光刻機零部件、光學鏡片的微米級加工。
保障量值溯源性
量塊是長度測量的源頭標準,定期檢定確保其偏差符合等級要求(如1等量塊長度變動量≤0.05μm),避免因磨損或變形導致產業鏈測量失準。
合規性強制要求
滿足ISO/IEC 17025、ISO 9001等體系對標準器的強制周期檢定要求,規避審計風險。
延長設備壽命與經濟性
通過檢定識別銹蝕、劃痕等損傷,及時研磨修復(僅限表面輕微損傷),避免整套報廢(高精度量塊單價可達萬元)。
環境要求:溫度20±0.5℃(00級)、20±1℃(1-3級),濕度≤65%RH,恒溫≥24小時。
標準設備:
激光干涉儀(0-1等量塊)、接觸式干涉儀(2-3等量塊);
標準平晶(平面度檢測)、恒溫室(控溫±0.1℃)。
| 項目 | 操作要點 | 技術指標 |
|------------------------|----------------------------------------------------------------------------|---------------------|
| 外觀檢查 | 測面無銹蝕劃痕、倒棱均勻、標識清晰(標稱值、級別) | 無影響精度的缺陷 |
| 截面尺寸與連接孔 | 游標卡尺測量,公差±0.2mm | 符合規程表1 |
| 平面度與研合性 | 平晶干涉法檢測,0級量塊平面度≤0.05μm;與平晶研合后無光隙 | 無彩色干涉條紋 |
| 長度變動量 | 測量面上5點長度最大值與最小值之差(如1等量塊≤0.05μm) | 符合規程表6 |
| 中心長度偏差 | 激光干涉法測量實際長度與標稱值偏差(如K級量塊允許±0.2μm) | 符合規程表7 |
| 長度穩定度 | 對比歷年數據,計算年變化量:$$ l_A = frac{|l_2 - l_1|}{Y} $$(Y為年數) | 年變化≤0.02μm(00級) |
注: 檢定需增加線膨脹系數(鋼:11.5×10??/℃)、硬度(≥800HV)測試。
| 類型 | 等級 | 長度偏差允許范圍 | 適用場景 |
|----------|--------------|---------------------|----------------------------------|
| 按級 | 00、0、1、2、3、K | 00級:±0.02μm | 出廠標稱值使用(便捷) |
| 按等 | 1~5等 | 1等:實際值+不確定度 | 需修正值的高精度場景(如計量院) |
| 參數 | 00級要求 | 1級要求 | 測試方法 |
|--------------------|----------------|-----------------|---------------------|
| 平面度 | ≤0.05μm | ≤0.10μm | 平晶干涉法 |
| 長度變動量 | ≤0.05μm | ≤0.16μm | 5點激光掃描 |
| 研合性 | 與平晶無光隙 | 允許微弱光隙 | 目視+白光干涉 |
| 穩定度 | ≤0.02μm/年 | ≤0.05μm/年 | 歷史數據比對 |
特殊要求:
- 陶瓷量塊:線膨脹系數需按廠家數據修正(無數據時默認9.5×10??/℃);
- 長量塊(>100mm):必須水平支撐于艾利點(距兩端0.211L),避免重力彎曲。
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