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高溫環(huán)境下,熱電偶中的金屬合金往往會發(fā)生顆粒狀氧化,從而降低了熱電勢差的輸出,同樣,絕緣材料也會因高溫環(huán)境下的氧化和熱分解而導(dǎo)致斷裂或降解,影響其絕緣性能。熱電偶在高溫環(huán)境下的失效原因主要包括氧化、絕緣失效、金屬疲勞以及金屬離析等。下面對高溫失效產(chǎn)生的原因展開詳細解說。
溫度高達一定程度時,熱電偶材料與氧氣發(fā)生反應(yīng),導(dǎo)致氧化,從而導(dǎo)致熱電勢差發(fā)生變化或消失
高溫下的熱電偶會使得絕緣材料失效,導(dǎo)致短路或者漏電。絕緣失效可能由于極限溫度的超出、腐蝕、日光燈或氧化觸媒的影響等多種原因引發(fā)。
長時間處于高溫下的熱電偶,其金屬部分可能發(fā)生斷裂或變形,導(dǎo)致熱電偶失去準確性。同時,金屬合金中的某些成分可能會在長時間的高溫下分離出來,從而降低熱電偶的性能或使其失去準確性。
由于熱電偶為微細結(jié)構(gòu),是探測器最核心的元件,需要將直徑約0.15mm的電纜芯線和直徑約0.5mm的發(fā)射體焊接,兩種焊接材料尺寸相差較大且為異種材料,焊接難度。
如果熱電偶靠近某些熱膨脹系數(shù)差異較大的材料,高溫下可能導(dǎo)致熱電偶焊點受到拉力作用而斷開。
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