X射線熒光光譜儀，專門用于鍍金/鍍錫/鍍鉻/鍍銀/鍍鎳層厚度檢測;其核心部件采用美國進口，軟件算法采用XRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告;精密度、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到精確的測試效果。

　　1.鍍鎳測厚儀根據測量原理的分類

　　(1)磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高.

　　(2)渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高.

　　(3)超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.

　　(4)電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩.

　　(5)放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合.國內目前使用普遍的是前兩種方法.

　　2.影響鍍鎳測厚儀測量精度的原因

　　(1)覆蓋層厚度大于25µm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

　　(2)基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;

　　(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;

　　(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.

　　(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

　　(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;

　　(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。

　　以上就是一六整理分享的關于鍍鎳測厚儀檢測原理分類與影響測量精度的原因。想了解更多相關資訊，歡迎持續關注。