X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶?dǎo)體及非導(dǎo)體材料進(jìn)行分析，近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測(cè)分析時(shí)采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來(lái)了解一下吧。

　　1、莫塞萊定律

　　臺(tái)式光譜儀發(fā)生故障時(shí)，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對(duì)于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。

　　2、布拉格定律

　　該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導(dǎo)定律，同時(shí)，布拉格定律是波長(zhǎng)色散型X熒光光譜儀所使用的分光原理，在進(jìn)行材料檢測(cè)分析的時(shí)候能夠讓不同元素不同波長(zhǎng)的特征X熒光*分開(kāi)，使譜線處理工作變得非常簡(jiǎn)單，降低儀器檢出限。

　　3、比爾-朗伯定律

　　比爾-朗伯定律是反應(yīng)樣品吸收狀況的定律，涉及到理論X射線熒光相對(duì)強(qiáng)度的計(jì)算問(wèn)題。X熒光光譜儀采用這一定律進(jìn)行檢測(cè)分析時(shí)，樣品可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線，需要將混合的X射線按波長(zhǎng)分開(kāi)，分別測(cè)量不同波長(zhǎng)的X射線強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析。

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