XRF分析是一種成熟、值得信賴的可靠技術，可用于測量從珠寶到工程設備等各種部件的鍍層厚度。作為質量控制流程的一個關鍵部分，您很可能會依靠XRF的測試結果來控制流程，并在發(fā)貨前測試成品部件的質量。

然而，雖然XRF是一種可靠的技術，但它也很容易得到錯誤結果，尤其是對于鍍層厚度測量。在這篇文章中，我們將討論您的XRF測量出錯的原因，以及您可以采取的預防措施。

XRF錯誤的源頭
 

一般來說，測量出錯有兩種原因：要么您的儀器有問題，要么您的測量方法有問題。我們先來看看儀器方面的問題。

如何確保您的XRF工作正常。

XRF分析儀是一種精密儀器，在其使用期內–從您完成常規(guī)檢查到制造商年檢都需要小心使用。這是您確保XRF提供正確結果所需的必要工作。

• 常規(guī)儀器檢查 常規(guī)儀器檢查由操作員按照制造商建議的時間間隔進行。此類檢查會監(jiān)測儀器的內部性能，如X射線探測器強度、探測器分辨率和探測器增益。如果發(fā)現細微變化，儀器會自動進行調整。而如果變化超出預期，您的分析儀會發(fā)出警報，此時需要聯系制造商。遵守制造商建議的檢查間隔是很重要的——如果時間間隔太長，就會錯失發(fā)現細微變化的時機，如果時間間隔太短，分析儀可能會過度矯正，因此也可能帶來錯誤。

   

• 校準 進行常規(guī)儀器檢查之后，在使用XRF分析儀進行質量控制之前，您需要驗證您的校準。您可以使用已知的生產零件或參考樣（也稱為標準樣）。重要的是，此類參考樣須從經認證的供應商處購買，定期由ISO17025認可實驗室對其進行重新認證。

   

• 儀器認證 作為儀器年檢的一部分，建議您讓原始制造商對您的XRF分析儀進行重新認證，確保敏感部件正常工作。這通常由專業(yè)工程師進行，其將進行全面診斷并提出相應建議。 

可能導致誤差的分析錯誤

即使使用設置的儀器，在進行測量時，還會有其他因素可能導致錯誤。

• 未履行樣品對焦 確保樣品被正確對焦是測量過程中的一個關鍵步驟。確保X射線管、樣品和探測器彼此之間的距離固定，這對于準確的鍍層厚度結果至關重要。如果X射線管、樣品和探測器彼此之間的距離太大，則鍍層會變薄，反之亦然。如果您要測量多層鍍層，錯誤就會疊加。

   

• 基底變化 基底內的其他元素會干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產生的X射線信號與正確的鍍層厚度無法關聯。好在目前這種影響已被充分認識理解，所以如果您使用與您的實際基底非常相似的材料進行校準，則可補償這種影響。本質上，您的基底材料需與您的校準參考樣非常相似。

   

• 超出校準范圍的測量 您儀器的校準是針對有限范圍內的鍍層厚度和成分進行優(yōu)化。在較大范圍內，鍍層厚度和X射線強度之間的關系不是線性的，因此您不能保證在儀器校準范圍之外也獲得可靠的結果。您的XRF制造商能夠告訴您校準的測試極限，并且您也可以在軟件上設置警告，如果測量值超出“安全”范圍，就會提醒操作員，如此您可以確保始終在校準極限范圍內進行測量。