CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢

來源：儒亞科技（北京）有限公司 2021年09月24日 09:01

　　CPS納米粒度分析儀分辨率很高，它有效地結(jié)合了高速離心沉降(ZG24000轉(zhuǎn)/分)和激光法的優(yōu)點，使得整個儀器能夠達(dá)到*的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.

　　同激光散射和顆粒計數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆粒或者外來顆粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個粒度峰，該儀器都可以有效地檢測并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測量終得到的是真實、可靠的顆粒分布。

　　*的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到，少可以分析小于毫克乃至微克級的樣品。

　　高度可重復(fù)性的樣品結(jié)果; 連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于±1% 或更好。

　　連續(xù)的離心操作；在分析連續(xù)樣品的時候，不需要儀器停止來清洗，需要極少的人工。

　　和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時間。速度的優(yōu)勢是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測器響應(yīng)。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。

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