http:///1、Accuracy（準確度）
衡量測量值與‘真值’接近程度的量度。注意，任何基于未知樣品與標樣相比較來進行 分析測量的方法，其準確度不可能高于標樣本身的準確度。因此原子吸收測量的準確度 依賴于所制備標樣及樣品的準確程度。干擾也會對準確度造成影響。
2、Aerosol （霧汽）
由霧化器所產生的很細的霧滴。
3、Analyte （被分析元素）
所要檢測的元素。
4、Atomic Absorption （原子吸收）
是一種基于原子對光產生吸收進行元素分析的技術。當原子吸收過程發生時，原子的電 子發生躍遷，到較高能級，成為激發態。
5、Atomic Emission（原子發射）
是一種基于激發態原子向基態原子回遷釋放能量（產生發射光）進行元素分析的技術。
6、Atomization（原子化）
是將被分析元素或其化合物轉換成原子蒸汽的過程。
7、Blaze（閃爍）
為光柵刻線的形狀，決定波長與相應能量的分配。
8、Blaze Angle（閃耀角）
光柵的閃耀角決定散射光Z大光強波長。
9、Blaze Wavelength（閃耀波長）
光柵散射Z大強度波長。
10、Calibration（校正）
建立分析校正曲線圖，該圖描述了被分析元素濃度與吸光度之間的關系。在原子發射中 ，則為發射強度與濃度之間的關系。
11、Calibration Blank（校正空白）
為空白溶液，該溶液中不人為加入某一已知濃度的被分析元素。通常該空白溶液應與其 它標樣保持相同基體，因而其測量值代表所使用試劑的污染程度。用于校正。
12、Characteristic Concentration（特征濃度）
為被分析元素產生 0.0044 （1 % ）吸光度所需濃度。不同的儀器，特征濃度不一 樣。 可按下列公式計算：
Char. Conc. = （標樣濃度 * 0.0044） / 平均吸光度
（通常在校正曲線線性范圍內測，如<0.2ABS）
13、Characteristic Mass（特征質量）
在石墨爐分析中，按峰高計算，被分析元素產生0.0044吸光度所需質量（以皮克為單位 ）?？砂聪鹿接嬎悖?
Char. Mass = （標樣濃度 * 0.0044 * 進樣體積） / 標樣吸光度
14、Chemical Modifier（基體改進劑）
基體改進劑是加在樣品中的一種試劑，作用是用化學的方法改變樣品的基體組成，以改 變被分析元素的揮發性和/或基體結構，降低干擾，或將被分析元素以特定形態隔離出來，從而分離出背景信號和被分析元素的原子吸收信號。對復雜基體，基體改進劑可在原 子化階段增強原子吸收信號和/或降低背景信號。理想的基體改進劑，兼備兩者的功能。
15、Coefficient of Variation（變異系數）
多次測量的重復性或精密度。通常用相對標準偏差% RSD 來表示。即為標準偏差除以平 均值（百分數）。
16、Desolvation（脫溶）
霧汽干燥，溶劑蒸發，形成干的微小固體顆粒的過程。
17、Detection Limit（檢出限）
在某一波長下測量某一被分析元素的空白溶液的濃度，所得多次測量值標準偏差的司倍 即為該被分析元素在該波長下的檢出限。這是儀器所能檢出的高于背景噪聲的Z低限。
在檢出限附近，因測量精度一般較差，％RSD在33％以上。因此要進行較準確的測量是 不可能的。所以，正常測量因至少在高于檢出限5－10倍的濃度范圍進行，此范圍內測量精度可達3－5％。
18、Digestion（消解）
將固態樣品用酸轉化成液體形態的過程。
19、Dynode（打拿極）
光電倍增管信號放大的中間級。
20、Emission（發射）
原子能級躍遷所釋放出的能量。
21、Emission Intensity（發射強度）
發射時產生譜線（光）強弱的度量。
22、Excitation（激發）
原子由于碰撞、被加熱或光線照射而吸收能量的過程。當發生激發時，原子的外層電子躍遷到較高能級。該原子成為激發態原子。
23、Filter（濾光片）
是一種衰減如射輻射能量的材料。是選擇某一波長范圍的方法。
24、Grating Density（光柵密度）
光柵上每單位長度中的刻線條數。通常用線/毫米來描述。
25、Grating Diffraction（衍射光柵）
為一光學器件，帶有一鏡面，上可有距離相等的一系列刻線，具衍射分光作用。 通常稱光柵。
26、Ground State（基態）
原子能量Z低，Z穩定狀態?；鶓B原子中的電子都處于其Z底能級。
27、Holographic Grating（全息光柵）
采用全息照相技術生產出來的光柵。具較小雜散特性。
28、Hydride Generation（氫化物發生器）
是一種使被分析元素與還原劑（通常為硼氫化鈉）發生化學反應，產生揮發性氫化物，然后通到石英池加熱還原成自由基態原子的技術。
29、Interference（干擾）
任何影響吸收值正常測量的化學及物理效應。
30、Ionization（離子化）
為中性原子失去電子或得到電子而成為帶電荷離子的過程。
31、Linear Dispersion（線性色散）
光柵對不同波長分光的程度，用微分式來描述： dx/dg, 其中：
x = 光譜長
g = 波長
單位為： mm/nm.
32、Linear Dynamic Range（線性動態范圍）
校正曲線線性范圍內，濃度的范圍。原子吸收中，一般可達102 - 103.
33、Magnetic Sensitivity Ratio （MSR）（磁場靈敏度比）
塞曼吸收與正常吸收的百分比。 用來確定塞曼石墨爐法分析中被分析元素靈敏度的損失程度。MSR 為100 %表明該元素無靈敏度損失。 計算公式如下：
MSR = 磁場ON時吸光度 * 100/ 磁場Off時吸光度
34、Matrix（基體）
樣品中的主要化學成分。
35、Matrix Matching（基體匹配）
在分析中為克服樣品基體對結果的影響，將標樣制備成與樣品基體一樣的標樣。
36、Matrix Interference（基體干擾）
非譜線性質干擾，是由于樣品與標樣的基體不同而引起的差異。如樣品與標樣的表面張力或黏度不同而產生的干擾。
37、Maximum Absorbance（Z大吸光度）
在塞曼吸收中，對某一特定波長，所允許的Z大峰高值。 超過該值時，就可能發生曲線下彎現象。
38、Monochromator（單色器）
為光學器件，用來從光譜中分離出有用的窄波長。
39、Nebulizer（霧化器）
將溶液轉化成霧狀霧汽的裝置。
40、Precision（精密度）
對同一樣品進行多次測量的重復性，通常用相對標準偏差%RSD來表示，或用變異系數CV來表示。
41、Reagent Blank（試劑空白）
不加被分析元素的溶液，通常與樣品具有相同基體，以消除試劑污染的影響。
42、Resolution（分辨率）
表示光譜儀分離相鄰波長的能力。
% RSD
相對標準偏差。
% RSD = （標準偏差* 100） / 平均吸光度
43、Spectrometer（光譜儀）
按波長分離，測量光的光學儀器。
44、Spectral Interference（光譜干擾）
由于分辨率不夠，相鄰波長未*分離，造成譜線重疊，從而可能對測量結果產生影響。
45、Spray Chamber（霧化室）
安裝在霧化器與燃燒頭之間的器件，用來濾除較大霧滴，并使樣品與氣體混合。
46、Standard Additions（標準加入）
該方法可克服由于樣品與標樣基體不同而造成的誤差。因標樣被加入到樣品中，兩者的基體基本一致。如采用化學基體改進劑方法無法消除干擾時可考慮采用該方法。
47、Standard Deviation（標準偏差）