"工業(yè)的維生su"
稀土元素被譽為"工業(yè)的維生su"，具有豐富的磁、光、電等特性，在現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)和功能材料中起到了至關(guān)重要的作用。這些材料主要包括稀土永磁材料、稀土催化材料、發(fā)光材料、貯氫材料、磁制冷材料、光導(dǎo)纖維、磁光存儲材料、巨磁阻材料、稀土激光材料、超導(dǎo)材料、介電材料等，在航空、航天、信息、電子、能源、交通、醫(yī)療衛(wèi)生等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。
高純稀土通常是指純度高于99.99%的稀土金屬或其氧化物。高純稀土材料中存在的其它稀土雜質(zhì)元素常會對最終產(chǎn)品的功能產(chǎn)生影響，隨著提煉技術(shù)的不斷改進(jìn)，使得稀土氧化物純度可達(dá)到6N（行業(yè)上通指稀土雜質(zhì)元素含量），從而對于痕量稀土雜質(zhì)測定方法提出了更高的要求。針對高純稀土中的雜質(zhì)檢測會有下面難點。
主基體的濃度太高，會干擾雜質(zhì)元素的檢測
對于高純稀土中的雜質(zhì)檢測，往往樣品是5N（99.999%）及以上級別含量非常低，需要儀器有足夠高的靈敏度
案例
分析
測定6N級高純稀土氧化釓
(Gd2O3 )中的14種稀土雜質(zhì)
目前氧化釓中稀土雜質(zhì)檢測方法主要依據(jù)國標(biāo)GB/T18115.7中的電感耦合等離子體發(fā)射光譜法( ICP-OES) 和質(zhì)譜法( ICP-MS)。
在ICP-OES分析中，由于Gd的譜線十分密集，對其他稀土雜質(zhì)元素的譜線干擾非常嚴(yán)重，測定范圍在0.001%-0.05%之間，難以滿足更高純度要求。
單桿ICP-MS 質(zhì)譜法具有更低的檢出限，但Gd具有7個天然豐度同位素，當(dāng)采用SQ-ICP-MS方法進(jìn)行氧化釓中其它稀土雜質(zhì)元素分析時，Yb和Lu將受到嚴(yán)重的[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd16 17 18 O]+和[ 152 154 155 156 157 158 160 Gd 16 17 18 OH]+類多原子類干擾，在現(xiàn)有的GB/T18115.7標(biāo)準(zhǔn)方法中，針對氧化釓中鐿和镥的測定制定了采用C272柱分離釓基體后再進(jìn)行ICP-MS法測定方案，各雜質(zhì)元素的最di定量下限可達(dá)0.0001%，能夠?qū)崿F(xiàn)近5N級釓純度的測定。但這種分離技術(shù)非常費時，步驟繁瑣，對方法測定結(jié)果的影響因素多。
"賽默飛三重四極桿ICPMS"
賽默飛三重四極桿ICPMS不經(jīng)任何基體分離手段，能輕松解決高純稀土元素中雜質(zhì)元素檢測的干擾問題，為高純稀土質(zhì)量提供有力質(zhì)量控制手段。
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實驗測定結(jié)果
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iCAP TQ 三重四極桿ICPMS-高純稀土元素檢測利器
超qiang抗干擾neng力
利用 Q1的iMS智能化質(zhì)量篩選功能可有效地將高純稀土基體離子進(jìn)行剔除，然后通過Q2碰撞反應(yīng)池中加入特定的反應(yīng)氣體，如氧氣或者氨氣，將待測稀土雜質(zhì)離子或者基體氧化物離子的質(zhì)量數(shù)進(jìn)行遷移，解決了質(zhì)量數(shù)重疊干擾。
簡單操作
賽默飛Qtegra™ 智能科學(xué)數(shù)據(jù)處理軟件（ISDS™）通過自帶的Reaction Finder 軟件工具，能夠自動為分析任務(wù)確定*測量模式，幫助用戶方便地建立方法，節(jié)省了日常方法建立所消耗的時間。
為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案
賽默飛采用iCAP TQ ICPMS/MS三重四極桿質(zhì)譜儀無需采用繁雜的分離稀土基體技術(shù)，就能輕松去除基體元素形成的干擾，從而準(zhǔn)確測定稀土雜質(zhì)元素的含量，為全國稀土行業(yè)的客戶提供解決方案以滿足行業(yè)發(fā)展的迫切需求。
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