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當前位置：北京中慧天誠科技有限公司>>技術文章>>長余輝熒光材料光變特性測試系統原理
本系統是為了測量長余輝熒光材料光變特性而，設計的。系統可在計算機控制下對樣品進行自動測量。
，指標：
光度計：
測量范圍：0-19.99cd/m2
，分辨：10-5 cd/m2V(λ)
匹配誤差：f1≤ 8%精度：±4%±1字
光 源：另購選配
電動快門：由計算機控制，開啟時間可設定。
照度監測用照度計：31/2 位顯示器V(λ)
匹配誤差：f1≤5%
精度±4%±1字
光度計及光源用電源：AC220±20V，50HZ
使用環境：溫度20±15℃濕度≤85%RH
本系統是為了測量長余輝熒光材料光變特性而，設計的。系統可在計算機控制下對樣品進行自動測量。
，指標：
光度計：
測量范圍：0-19.99cd/m2
，分辨：10-5 cd/m2V(λ)
匹配誤差：f1≤ 8%精度：±4%±1字
光 源：另購選配
電動快門：由計算機控制，開啟時間可設定。
照度監測用照度計：31/2 位顯示器V(λ)
匹配誤差：f1≤5%
精度±4%±1字
光度計及光源用電源：AC220±20V，50HZ
使用環境：溫度20±15℃濕度≤85%RH
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