韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀
檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
電鍍鍍層行業(yè)中，電鍍鍍層厚度是產(chǎn)品的zui重要質(zhì)量指標(biāo)，X射線鍍層測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度*儀器。X射線鍍層測(cè)厚儀作為一種測(cè)量鍍層厚度的精密儀器，在整個(gè)電鍍層厚度品質(zhì)檢測(cè)中占非常重要的地位。它在電鍍層厚度控制,品質(zhì)是否達(dá)到要求,鍍層是否符合客戶要求及成本控制方面,X射線鍍層測(cè)厚儀均可完成。對(duì)于現(xiàn)代電鍍加工來(lái)來(lái)說(shuō)， 非接觸式X射線測(cè)厚儀作為一種常用的精密測(cè)量?jī)x器，以其高精度和可靠性廣泛應(yīng)用于電鍍行業(yè)鍍層檢測(cè)中
韓國(guó)XRF-2000X射線鍍層測(cè)厚儀
XRF-2000 系列分為以下三種：
1. H型: 密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L型: 密閉式樣品室，方便測(cè)量 樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB型: 開(kāi)放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下
韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀
檢測(cè)電子及五金電鍍,化學(xué)電鍍層厚度
主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
測(cè)量時(shí)間：10－30秒
精度控制：
*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
韓國(guó)XRF2000鍍層測(cè)厚儀
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.03－35um
可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等
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