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| 產地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
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SM-114LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂
型號：SM-114LW
測量范圍：0?10mm
最小刻度：0.01mm
測頭：上、下均為3.2mm球形測頭
主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度
表盤式厚度表 測頭：
表盤式厚度表 規格：
型號 | 最小刻度 | 測量范圍 | 精度 | 平面度 | 表盤刻度 | 測量力 | 上測頭 | 下測頭 | 重量 | 測頭參考圖片 |
SM-114 | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 10平測頭 | φ 10平測頭 | 270 | 標準型 |
SM-114LS | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2球測頭 | φ 10平測頭 | 270 | LS |
SM-114LW | 0.01 | 10 | ±15 | ー | 0-50-100 | 2.5N以下 | φ 3.2球測頭 | φ 3.2球測頭 | 270 | LW |
SM-114P | 0.01 | 10 | ±15 | 5 | 0-0.5-1 | 2.5N以下 | φ 10平測頭 | φ 10平測頭 | 270 | 標準型 |
型號 | 最小刻度 | 測量范圍 | 精度 | 平面度 | 表盤刻度 | 測量力 | 上測頭 | 下測頭 | 重量 | 測頭參考圖片 |
SM-124 | 0.01 | 20 | ±20 | 5 | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 10平測頭 | φ 10平測頭 | 270 | 標準型 |
SM-124LS | 0.01 | 20 | ±20 | ー | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 3.2球測頭 | φ 10平測頭 | 270 | LS |
SM-124LW | 0.01 | 20 | ±20 | ー | 0-50-100 | 3.5N以下 | φ 3.2球測頭 | φ 3.2球測頭 | 270 | LW |
表盤式厚度表 別名：
表盤式厚度計、手握式厚度表、厚薄表、測厚計
表盤式厚度表 產品說明：
小刻度有0.01和0.001兩種。
測量厚度可達50mm
部分量表采用陶瓷測頭，與工作接觸面為陶瓷，可延長使用壽命。另外，還有FE（材質為加硬SK4）和AT（材質為特殊鍍層）可供選擇。
根據測頭的形狀不同，可分為標準型和其它型，
標準型的測量力不超過2.5N，同時也可選用低測量力0.4N
SM-114LW 金屬圓測頭，測頭尺寸￠3.2mm，用于測量金屬片及不規則產品
表盤式厚度表 用途：
應用廣泛，可測量紙張、頭發、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。
SM-114LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂
表盤式厚度表 實物照片：
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