高質量的測量是測量儀表、測量方法及測試人員有機配合的整體。與傳統的接觸式外形幾何尺寸測量儀表比較，BenchMike中采用了激光非接觸測量原理，對原始測量數據自動采集、處理，數字顯示等技術，降低了由于測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高了整個測量的精度。在某些工業應用場合中，如產品出廠檢驗中，單位時間內需完成大量的測量。此時，在兼顧測量精度的同時，對測量速度提出了更高的要求。BenchMike提供了高速DSP核心處理單元，友好界面的顯示控制軟件及多種接口用于數據及通訊，將使用者從繁重的測量中解放出來。
總之，BenchMike不僅是一測量中心，還是一測量數據中心，也是一測量數據交換中心。其具備的強大功能保證了其可應用于廣泛的領域，同時也使測量更加簡單。特別需要指出的是對于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統接觸測量束手無策的被測量任務，BenchMike可提供滿意的測量。
特點:
1. 測量精度高，測量速度快。是本儀表可滿足不同測量應用領域。
2. 豐富的測量模式滿足不同的測量應用。
3. 采用了全新數據處理技術，圖形用戶交互（GUI）界面、快捷按鍵的使用使測量更直觀、操作更便利。
4. 內含測量應用庫及自編輯被測量功能，配合專門設計的夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測量擴充能力。
5. 單點及雙點自校準功能減少了使用條件的變化對測量的影響，使儀表的維護更方便。
典型測量功能:
配合測量夾具，本儀表可對下列被測量進行直接測量，自動完成測量數據的采集、處理、通訊功能。另用戶可基于這些測量功能設計更多的測量方案……
性能指標:
BenchMike283系列 | |
| 283-10 | 283-20 |
測試范圍 | 0.075-25.4mm(0.003-1.0in.) | 0.625-50mm(0.025-2.0in.) |
復現性錯誤* | 0.25μm(0.000010in.) | 0.5μm(0.000020in.) |
線性誤差** | ±0.9μm(±0.000036in.) | ±1.5μm(±0.000060in.) |
測試區間范圍 | ±0.75×25mm(±0.030×1.0in.) | ±1.5×50mm(±0.060×2.0in.) |
掃描光尺寸 | 125μm(0.005in.) | 250μm(0.010in.) |
掃描光速率 | 50m/sec.(2,000in./sec) | 100m/sec.(4,000in./sec) |
