膜厚檢測儀* 適用于Windows?2000或Windows? XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
* 頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的產品。
* 能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單化。
* 畫中畫測試件查看和數據顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）。
* 圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中。
* 對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)。
膜厚檢測儀2000年前后,國內電子、通信行業的迅猛發展,帶來電鍍行業的廣泛需求。應貿易和質量體系認證的需求,許多企業工廠紛紛購置了相關的鍍層厚度檢測儀器和設備,同時也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。當然,有些外資企業,通過儀器自帶的標準器直接溯源到國外,而大部分企業部門,則處于自行封閉測量和不做量值溯源的狀況,國家沒有一個明確的量值傳遞體系,鍍層膜厚的量值處于一種混亂的狀態。
由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態時的厚度，這樣會和冷態時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態時保持*。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持*。
