x熒光膜厚測試儀2000年前后,國內電子、通信行業的迅猛發展,帶來電鍍行業的廣泛需求。應貿易和質量體系認證的需求,許多企業工廠紛紛購置了相關的鍍層厚度檢測儀器和設備,同時也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。當然,有些外資企業,通過儀器自帶的標準器直接溯源到國外,而大部分企業部門,則處于自行封閉測量和不做量值溯源的狀況,國家沒有一個明確的量值傳遞體系,鍍層膜厚的量值處于一種混亂的狀態。
x熒光膜厚測試儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態時的厚度，這樣會和冷態時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態時保持*。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持*。
產品特點：
1. 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！
2. 以*的設計實現微小區域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。
3. 無標樣測量！
4. 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。
5. 通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置！
6. 通過廣域觀察系統，能夠從畫面上的樣品整體圖（zui大250×200mm）中方便地測量位置。
