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臺式半導體膜厚儀

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產品型號xrf-1

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更新時間：2018-05-15 14:49:59瀏覽次數：267次

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產品簡介

美國博曼臺式半導體膜厚儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。

詳細介紹

美國博曼臺式半導體膜厚儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。
美國博曼臺式半導體膜厚儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的元素。
它的優勢有:
1.高性能、高精度、*穩定性、快速精確的分析帶來生產成本*化，精確測定元素厚度，優化的性能可滿足廣泛的元素測量.
2.堅固耐用的設計：可靠近生產線或在實驗室操作，生產人員易于使用.
3.簡單的校準調試：在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認證標準片以確保*精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025），預置了多種校準參數.
美國博曼特別適合于小的鍍層測量，如端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛浴，等行業．也有杰出的表現．可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層.
如果您有什么問題或要求，請您隨時。您的任何回復我們都會高度重視。金東霖祝您工作愉快！

關鍵詞：過程控制標準連接器線路板