試驗箱HAST試驗箱（www.kcshwhs.com）特性：

●速壽命試驗的目的是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　●用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

　　●隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。

　　●為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。

　　●壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。

　　●注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）

精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h 

試驗箱HAST試驗箱 結構：

1）、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護.
2）、型packing,箱內壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長packing壽命.
3）、實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1 micorn）.以確保箱內之純凈度.