上海首立實業有限公司
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X射線導向管聚焦技術(世界)保證了高的檢測精度；樣品檢測倉大、無需更換濾光片(濾波片)、無需樣品形狀的預處理；厚度自動修正；
HORIBA XGT-1000WR主要技術指標：
1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）
2、 檢測精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
3、 檢測倉內部尺寸：不超過460×360 mm（高150 mm）
4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）
5、 檢測器：高純硅檢測器 XEROPHY
6、 設備重量：約 265 kg（不含桌子、計算機）
7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm
8、 信號處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm
9、可同時測量4層金屬鍍層的厚度。
HORIBA擁有堀場制作所擁有70多年的X射線分析技術沉淀。HORIBA XGT1000WR便是一款經典機型。其X熒光光譜儀被廣泛*使用，廣泛應用于RoHS，ELV，WEE的檢測和過程控制
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