X 射線熒光分析技術（ XRF ，又稱 X 射線熒光光譜儀）作為一種快速分析手段， 為我國的相關生產企業提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等）， XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。
X 射線熒光分析技術可以分為兩大類型：能量色散 X 射線熒光分析（ EDXRF ，以下我們簡稱能量色散）和波長色散 X 射線熒光分析（WDXRF，以下我們簡稱波長色散）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（ Si-PIN ）型和 SDD 型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。
