涂鍍層測厚儀如何校準
閱讀：131發布時間：2022-2-5
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
一、 校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
⒈ 校準箔
對本儀器“箔"是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔"有利于曲面上的
校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀
器，覆蓋層應是非磁性的。
二、 基體
⒈ 對于本儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的
讀數進行比較。
⒉ 如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1) 在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準；
2) 用一足夠厚度的，電學或磁學性質相似的金屬襯墊標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
⒊ 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
三、 校準方法
本儀器有兩種測量中使用的校準方法，零點校準；二點校準；還有一種針對測
頭的基本校準。
⒈ 零點校準
a． 在基體上進行一次測量，儀器顯示＜×.×µm＞。
b． 按一下“ON/C"鍵，屏顯＜0.00µm＞即完成零點校準。
c． 要準確地校準零點，須重復上述a、b以獲得基體測量值小于1µm，這樣有利于提高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
⒉ 二點校準
a． 先校零點（見上）。
b． 在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度的標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××µm＞。
c． 用s或t鍵修正讀數，使其達到標準片上的標稱值。校準已完成，可以開始測量了。
注意：即使顯示結果與標準片值符合，按s、t鍵也是的，例如按一次s鍵一次t鍵。
如欲較準確地進行二點校準，可重復b、c過程，以提高校準的精度，
減少偶然誤差。
⒊ 在噴沙表面上校準
噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面
的方法確定
a． 儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。
b． 在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量10次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上測量10次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
⒋ 儀器的基本校準
在下述情況下，改變基本校準是有必要的：
──測頭頂端被磨損
──測頭修理后
──特殊的用途
在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應對測頭的特性重新進行校
準，稱為基本校準。通過輸入6個校準值（一個零值和5個厚度值）可重新校準測頭。
基本校準操作方法如下：
a． 在儀器關閉狀態下按住t鍵再按ON/C鍵開機，隨著一聲鳴響即進入基本校準方式。屏幕顯示如下：
b． 先校零值（見零點校準）。可連續重復多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣可提高校準的準確性。
c． 使用標準片，按厚度增加的順序做五個厚度的校準（見二點校準中的b、c）。每個厚度應至少是上一個厚度的1.6倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800µm。較大值應接近、但低于測頭的較大測量范圍。
d． 在輸入6個校準值后，測量一下零點，儀器自動關閉，新的校準值已存入儀器。當再次開機時，儀器將按新的校準值工作。
