影響渦流測厚儀測量準(zhǔn)確度的因素
閱讀：131發(fā)布時(shí)間：2022-2-4
1.不同鍍層材料引進(jìn)的誤差
通常被測鍍層材料有銅、鋁、鉻等,它們的相對磁導(dǎo)率分別為0.99992、1.000008和1.000045。顯然,都取為1是相當(dāng)精確的。因此,它們之間的差異不會(huì)引進(jìn)測量誤差。另外,只要合理選擇激勵(lì)頻率f(儀器設(shè)計(jì)時(shí)選定),電導(dǎo)率叮的影響是可以得到控制的。
2.粗糙度的影響
由于被測件基底和被測表面粗糙度的變化,使測量結(jié)果相差懸殊,因而不能得到真實(shí)的鍍層厚度值。我們作了幾組試驗(yàn),分別示于圖1、圖2
試驗(yàn)結(jié)果表明,當(dāng)被測基底和被測表面粗糙度Rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時(shí),對被測結(jié)果的影響可以忽略不計(jì);當(dāng)粗糙度R。值在6.3尸m以上時(shí),對被測結(jié)果有明顯的影響。對于刀痕較寬的被測表面,其測量結(jié)果受測點(diǎn)位置的影響很大。對這樣的被測件,取4一5個(gè)測點(diǎn)的平均值作為測量結(jié)果,可以相對地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數(shù)值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測量值增大。反之,測量值減小,更接近鍍層的真實(shí)厚度
3.被測基底厚度的影響
校對儀器時(shí)采用的基底厚度多是較大的,而被測件的基底厚度一般變化較大。當(dāng)被測件基底厚度大寸;IOmm時(shí),其厚度變化對測量結(jié)果的影響可以忽略不計(jì)。當(dāng)基底厚度小J二10mm時(shí).其影響就不能忽略,特別是小于3mm時(shí),其影響已可超出測量值的5%。因此,在測量較薄的工件時(shí),必須用和被測基底厚度相當(dāng)?shù)幕仔x器。這是因?yàn)?當(dāng)工件較薄時(shí),渦流效應(yīng)大大降低,使測量結(jié)果的數(shù)值明顯加大。為了解決上迷問題,可以將薄的被測件放在較厚的基底上測量。實(shí)踐表明,這樣作就可以避免渦流效應(yīng)的影響
4.曲率半徑的影響
渦流測厚儀使用的校對樣板和校對時(shí)用的基底多為平面型,被測件表面往往不是平面,而是外圓面或內(nèi)孔面。這樣的彎曲表面對測量結(jié)果有很大的影響。這主要是由于改變了測頭(線圈)和被測表面空氣間隙。為此,使測頭沿軸向母線測量,可以得到較滿意的測量結(jié)果。但是,當(dāng)曲率半徑較小時(shí),為提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度,應(yīng)當(dāng)根據(jù)所用測頭的具體情況,做必要的試驗(yàn)才成。在仲裁檢測時(shí),尤其應(yīng)當(dāng)如此。如我們?yōu)槊禾疾框?yàn)收德國進(jìn)口的液壓支架時(shí),預(yù)先按被測件曲率半徑尺寸作了校對件,使驗(yàn)收工作收到了滿意的結(jié)果。
5.被測部位的影響
試驗(yàn)表明,測量部位不同,測量結(jié)果的數(shù)值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應(yīng)降低,測量結(jié)果數(shù)值增大。所以,應(yīng)當(dāng)避免在靠近邊緣和棱角處測量。
6其它因素的影響
磁場強(qiáng)度足夠高、檢測現(xiàn)場有較大的電器設(shè)備時(shí),對儀器有一定影響。由于傳感器本身具有屏蔽措施,一般地說,此項(xiàng)影響較小。但是,為了保證有足夠的測量準(zhǔn)確度,實(shí)際使用時(shí)也應(yīng)當(dāng)注意。被測基底材料不同,相對磁導(dǎo)率等有較大變化,由于采用同樣基底材料進(jìn)行校對,它對測量結(jié)果的影響是很小的。必須將測頭與被測件表面壓得較緊,以防測量值不穩(wěn)定。并且,測頭壓在被測表面上之后,稍稍滑動(dòng)一下,可消除灰塵等臟物對測量結(jié)果的影響
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