鉑悅儀器（上海）有限公司 廣州辦事處
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全反射X射線熒光光譜儀的工作原理（TXRF）
X射線熒光光譜分析法（XRF）的原理：原子受原級X射線激發(fā)后，發(fā)出次級X射線熒光。因此，XRF 分析法可以：
? 根據熒光的波長和能量，確定元素；
? 各元素的濃度可根據熒光的強度進行計算。
X射線由Mo靶或W靶產生，在Ni/C人工多層膜上反射并單色化。扁平的光束以非常小的角度（0.3 – 0.6 °）掠射裝有樣品的樣品架，并產生全反射。樣品
主要技術特點
? 可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至，檢出限到2pg。
? 需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升，粉末樣品10微克以內。
圖2.4 S2 PICOFOX
? *的便攜式全反射熒光儀，設備小巧，一體化結構設計，不需要任何輔助設備及氣體、液氮等，可拿到現場進行分析。
? 1位及25位全自動進樣器兩款設計，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析。
? 第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術，不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps。
? 由于全反射無背景，熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好，用戶不需要標樣就可以進行定量分析。
? 應用：水、廢水、土壤中的污染元素；血液、尿液、組織中的有毒元素；食品、醫(yī)藥、刑偵、環(huán)保、陶瓷、水泥、建材、地質等領域。
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