牛津儀器膜厚儀獲得MacRobert獎提名

牛津儀器出品的X-Max 硅漂移探測器入圍2013年MacRobert*zui高工程學獎。裝配在掃描電鏡（SEM）的X-Max大面積能譜儀探測器用來檢測微納米級別樣品的化學成分。分析包括半導體內細微夾雜、槍擊殘留物甚至納米材料。
MacRobert獎是英國歷史zui悠久榮譽zui高的工程領域獎項，用來獎勵既能帶來巨大的商業(yè)價值又能推動社會發(fā)展的杰出發(fā)明創(chuàng)造。
投票委員會由多名學術大儒以及創(chuàng)業(yè)組成。他們從現(xiàn)代工程浩瀚的成就項目中遴選而出zui后三位角逐者。
牛津儀器納米分析部總Ian Barkshire博士稱：“能夠進入決賽，我們感到非常榮幸。X-Max探測器的發(fā)展向技術及工程領域提出了新的課題，成為當今市場的領導產品，實現(xiàn)更小尺度的材料分析。”
MacRobert獎的評選主席John Robinson FREng說：“入圍三家公司都在不同的領域對英國工業(yè)技術發(fā)展起到極大的推動作用，都是從創(chuàng)業(yè)的基礎上發(fā)展至今成為世界的高科技公司。我們具有非常良好的科研基礎，在這個基礎上涌現(xiàn)出一大批成功的高科技企業(yè)，我們今年提名的這三家企業(yè)都是在各自領域從無到有獲得巨大進步的單位，MacRobert獎也鼓勵更多的公司關注科技投入，行業(yè)發(fā)展。”