近年來，EBSD技術(shù)在材料分析研究中的應(yīng)用越來越廣泛。傳統(tǒng)上，EBSD制樣、EBSD數(shù)據(jù)采集、EBSD數(shù)據(jù)分析是EBSD應(yīng)用的三大難點(diǎn)；如今，隨著制樣技術(shù)的日趨成熟和AZtec軟件越來越簡便易行，制樣與數(shù)據(jù)采集已經(jīng)很容易掌握了。

新一期網(wǎng)絡(luò)講堂將繼續(xù)聚焦EBSD的數(shù)據(jù)分析。上一期我們詳細(xì)講解了去噪、統(tǒng)計(jì)晶粒度、晶界分析相關(guān)的內(nèi)容和技巧。這次我們將從基本原理到具體操作分析上，著重介紹應(yīng)變分析、織構(gòu)分析和位向關(guān)系分析等相關(guān)內(nèi)容。應(yīng)變分析會利用到Channel5和AZtec中相應(yīng)的Map Components， BC/BS、KAM（ LocMis ）、Strain Contouring、GOS/MOS、GROD、Disoreintation colouring等。在織構(gòu)分析中我們將介紹如何調(diào)整參考坐標(biāo)系，分析典型織構(gòu)等。

講師：楊小鵬博士

清華大學(xué)材料科學(xué)與工程博士，曾從事EBSD軟件后處理功能的開發(fā)工作，2014年回國加入牛津儀器公司，主要負(fù)責(zé)EBSD等工作。