X熒光測厚儀的幾個重要系統部件介紹
X熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于微軟中文視窗系統的中文版應用軟件包，實現了對CMI主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定多種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動范圍、相對偏差等多種數據分析模式。
1.濾光片程控交換系統：
根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統；
二次X射線濾光片：Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選；
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口。
2.準直器程控交換系統：
多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制。
3.X射線探測系統：
封氣正比計數器；
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路。
4.樣品觀察系統：
高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍；
50倍和100倍觀察系統任選。
5.激光輔助光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能。
