到目前為止，我國(guó)發(fā)布的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)75項(xiàng)，而《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編》就是一共匯集了截至2005年7月底我國(guó)正式發(fā)布實(shí)施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)75項(xiàng)，總共涉及總則、術(shù)語(yǔ)、各種試驗(yàn)方法、試驗(yàn)導(dǎo)則及環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法等。
目錄 ······
GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
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GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)
GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)EC和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落
GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
GB/T 2423.10—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)FC和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB/T 2423.11—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fd：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)——一般要求
GB/T 2423.12—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fda：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)——高再現(xiàn)性
GB/T 2423.13—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fdb：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)—中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)FdC：寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)——低再現(xiàn)性
GB/T 2423.15—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
GB/T 2423.17—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
GB/T 2423.18—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.19—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)KC：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.20—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.21—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Q：密封
GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB/T 2423.25—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.26—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.27—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.28—1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法
GB/T 2423.29—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度
GB/T 2423.30—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
GB/T 2423.32—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)方法
GB/T 2423.33—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)KCa：高濃度二氧化硫試驗(yàn)
GB/T 2423.34—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
GB/T 2423.35—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AFC：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.36—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BFC：散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.37—1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法
GB/T 2423.38—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法
GB/T 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)EC：彈跳試驗(yàn)方法
GB/T 2423.40—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41—1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 風(fēng)壓試驗(yàn)方法
GB/T 2423.42—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T 2423.43—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動(dòng)（FC和Fb）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.44—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eg：撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ef：撞擊 擺錘
GB/T 2423.47—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fg：聲振
GB/T 2423.48—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ff：振動(dòng)——時(shí)間歷程法
GB/T 2423.49—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fe：振動(dòng)——正弦拍頻法
GB/T 2423.50—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要
GB/T 6999—1986《環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表》因篇幅原因， 收入在《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)匯編》（第二版）中。 為便于使用，書(shū)后附有這些標(biāo)準(zhǔn)與標(biāo)準(zhǔn)的采用關(guān)系以及與舊版標(biāo)準(zhǔn)的代替關(guān)系表。
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