FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

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FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高級產(chǎn)品線之一。 它配備了具有高能量分辨率的硅漂移檢測器。 結(jié)合大口徑，XDV-SDD系列可實(shí)現(xiàn)出色的測量結(jié)果。 大型，易于接近的測量室使其既適用于組件上的fl的測量，也適用于幾何形狀復(fù)雜的大型樣品。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD是Fischer強(qiáng)大的X射線設(shè)備之一。它的硅漂移檢測器對輕元素的X射線輻射很敏感。這允許非常低的檢測限以及與NiP，RoHS和非常薄（<0.05 µm）的薄膜有關(guān)的測量應(yīng)用。這就是XDV -SDD在研發(fā)，實(shí)驗(yàn)室和過程認(rèn)證設(shè)置中表現(xiàn)出色的原因。另外，它的易用性使其在生產(chǎn)控制中很重要。

NiP / Fe：P濃度和層厚

鈍化層：Cr / Zn / Fe

XDV-SDD系統(tǒng)特別適合于痕量分析和污染物限值的快速監(jiān)控。例如，在塑料中，它可以用來檢測關(guān)鍵化學(xué)元素，例如Pb，Hg和Cd，其檢測限僅為幾ppm。

特點(diǎn)：

● 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量很薄的鍍層
● 很耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，能以非常出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量
● 可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續(xù)測量
● 擁有實(shí)時的視頻顯示和輔助激光點(diǎn)，使得樣品定位變得快速而簡便

應(yīng)用 鍍層厚度測量 ? 測量非常薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層 ? 測量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層 ? 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量

材料分析 ? 電子、包裝和消費(fèi)品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(zhì)（如重金屬）進(jìn)行鑒別 ? 分析黃金和其他貴金屬及其合金 ? 測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量