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IC芯片卡雙向彎扭試驗機的用途用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
IC芯片卡雙向彎扭試驗機由衡翼儀器研制成功，該測試儀工位為15工位，其中5工位為長邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次，計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數)，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。
衡翼儀器IC卡動態彎扭試驗機專業服務國網電網客戶，為企業客戶及國內外研究單位提供定制化研發服務，衡翼更專業，更值得信賴。
IC芯片卡雙向彎扭試驗機本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。
IC芯片卡雙向扭曲試驗機技術參數:
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，總扭曲角度30°
長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為2mm±0.50mm，
短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長邊小位移量為1mm±0.50mm，
夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。
IC芯片卡雙向扭曲試驗機公司承諾：
1.購機前，我們專門派技術人員為您設計的流程和方案
2.購機后，將免費指派技術人員為您調試安裝
3.整機保修一年，產品終身維護
4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用
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