SEM是掃描電鏡，英文全稱為Scanning Electron Microscope。以下是關于掃描電鏡的一些基本信息：

1、工作原理

掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測電子與樣品相互作用產生的各種信號來獲取樣品表面微觀結構信息的電子顯微鏡。電子槍發(fā)射出的電子束，經過電磁透鏡聚焦和加速后，形成一束高能量的細電子束，掃描線圈控制電子束在樣品表面進行逐行掃描。電子束與樣品表面的原子相互作用，會產生二次電子、背散射電子等信號，這些信號被探測器收集并轉換為電信號，再經過放大和處理后，在顯示屏上顯示出樣品表面的圖像。

2、特點

    - 高分辨率：能夠達到較高的分辨率，一般可以達到納米級別，甚至在一些先進的設備中可以達到亞納米級別，能夠清晰地觀察到樣品表面的細微結構和形貌特征。

    - 大景深：與光學顯微鏡相比，掃描電鏡具有很大的景深，這意味著它可以對表面起伏較大的樣品進行清晰成像，能夠呈現(xiàn)出樣品表面的三維立體結構，使觀察者可以直觀地了解樣品的表面形態(tài)。

    - 樣品制備相對簡單：對于大多數(shù)樣品，只需要進行簡單的處理，如干燥、鍍膜等，就可以進行觀察。不像透射電鏡那樣需要對樣品進行超薄切片等復雜的制備過程，這使得掃描電鏡能夠更方便地對各種類型的樣品進行分析。

    - 可進行多種分析：除了觀察樣品的形貌外，掃描電鏡還可以與其他分析儀器相結合，如能譜儀（EDS）、波譜儀（WDS）等，實現(xiàn)對樣品的成分分析；還可以通過電子背散射衍射（EBSD）技術進行晶體結構和取向分析等。

3、應用領域

    - 材料科學：用于研究材料的表面形貌、組織結構、斷口分析等，幫助了解材料的性能與結構之間的關系，為材料的研發(fā)、制備和性能優(yōu)化提供依據(jù)。例如在金屬材料中，觀察金屬的晶粒大小、相分布、缺陷等；在半導體材料中，觀察芯片表面的電路結構、光刻圖案等。

    - 生物學：可以觀察生物樣品的表面形態(tài)和微觀結構，如細胞、組織、微生物等的表面特征，有助于生物學研究中的形態(tài)學觀察、細胞生物學研究、病理學診斷等。比如觀察細胞的表面微絨毛、細菌的形態(tài)和細胞壁結構等。

    - 地質學：用于研究巖石、礦物的表面特征、顆粒形態(tài)、孔隙結構等，對地質學中的巖石分類、成巖作用、礦物鑒定等方面具有重要意義。例如觀察巖石中的礦物顆粒分布、孔隙大小和連通性等，為石油勘探、地質災害研究等提供信息。

    - 工業(yè)檢測：在電子制造、機械加工、汽車制造等工業(yè)領域，用于產品的質量檢測、失效分析等。如檢查電子元件的焊接質量、電路板的表面缺陷、金屬零件的磨損和腐蝕情況等。

CEM3000臺式掃描電鏡現(xiàn)場隨機進行70000X倍成像